| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 1 绪论 | 第8-16页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第8页 |
| 1.2 国内外相控阵雷达天线及测试技术研究概况及现状 | 第8-14页 |
| 1.3 论文的内容及结构 | 第14-16页 |
| 2 相控阵雷达天线设计 | 第16-24页 |
| 2.1 相控阵雷达天线基本原理 | 第16-19页 |
| 2.1.1 相控阵雷达天线性能参数 | 第16-18页 |
| 2.1.2 相控阵雷达天线设计过程 | 第18-19页 |
| 2.2 相控阵雷达天线设计 | 第19-24页 |
| 2.2.1 相控阵雷达天线辐射阵面设计 | 第19-21页 |
| 2.2.2 相控阵雷达天线馈电网络设计 | 第21页 |
| 2.2.3 相控阵雷达天线TR组件设计 | 第21-22页 |
| 2.2.4 相控阵雷达天线波控器设计 | 第22-24页 |
| 3 相控阵雷达天线电性能测试原理 | 第24-33页 |
| 3.1 天线采码测试 | 第24-25页 |
| 3.2 天线校准测试 | 第25-27页 |
| 3.3 天线近场扫描方向图测试 | 第27-33页 |
| 3.3.1 近场扫描测试理论 | 第27-31页 |
| 3.3.2 发射模式脉冲测试 | 第31-33页 |
| 4 相控阵雷达天线电性能测试硬件系统 | 第33-44页 |
| 4.1 测试系统硬件组成及系统指标 | 第33-37页 |
| 4.1.1 采码子系统组成 | 第33-35页 |
| 4.1.2 近场方向图测试系统组成 | 第35-36页 |
| 4.1.3 校准子系统组成 | 第36-37页 |
| 4.1.4 系统指标 | 第37页 |
| 4.2 系统测试场地设计 | 第37-39页 |
| 4.2.1 天线测试暗室设计要求 | 第37-38页 |
| 4.2.2 场地设计 | 第38-39页 |
| 4.3 硬件系统设计 | 第39-44页 |
| 4.3.1 硬件设备配置 | 第39-43页 |
| 4.3.2 硬件系统框架 | 第43-44页 |
| 5 相控阵雷达天线电性能测试软件系统 | 第44-58页 |
| 5.1 LabVIEW简介 | 第44-45页 |
| 5.2 相控阵雷达天线需求分析 | 第45-47页 |
| 5.2.1 相控线天线测试项目 | 第45-46页 |
| 5.2.2 相控线天线测试软件需求分析 | 第46-47页 |
| 5.3 软件系统设计与实现 | 第47-58页 |
| 5.3.1 系统功能及架构 | 第47-49页 |
| 5.3.2 软件设计 | 第49-53页 |
| 5.3.3 数据管理 | 第53-55页 |
| 5.3.4 处理算法 | 第55-58页 |
| 结论 | 第58-60页 |
| 参考文献 | 第60-61页 |
| 致谢 | 第61-62页 |