基于电磁层析成像的金属缺陷检测方法
| 学位论文的主要创新点 | 第3-4页 |
| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-17页 |
| 1.1 金属缺陷检测技术介绍 | 第9-10页 |
| 1.2 电磁层析成像技术简介 | 第10-14页 |
| 1.2.1 EMT基本原理和构成 | 第10-12页 |
| 1.2.2 EMT技术发展现状 | 第12-14页 |
| 1.3 用于金属缺陷检测的EMT系统发展现状 | 第14页 |
| 1.4 本课题主要研究内容 | 第14-17页 |
| 第二章 EMT成像理论基础 | 第17-27页 |
| 2.1 电磁层析成像敏感场的数学描述 | 第17-20页 |
| 2.2 EIT正问题 | 第20-22页 |
| 2.2.1 正问题的求解方法 | 第20-21页 |
| 2.2.2 灵敏度矩阵构建 | 第21-22页 |
| 2.3 EMT逆问题 | 第22-23页 |
| 2.4 EMT重建图像质量 | 第23-25页 |
| 2.4.1 影响重建图像质量的因素 | 第24页 |
| 2.4.2 图像质量评价的标准 | 第24-25页 |
| 2.5 本章小结 | 第25-27页 |
| 第三章 金属缺陷检测EMT系统设计方案 | 第27-39页 |
| 3.1 传感器设计 | 第27-30页 |
| 3.1.1 EMT系统传感器设计 | 第27-29页 |
| 3.1.2 EMT线圈激励测量方案 | 第29-30页 |
| 3.2 图像重建方案 | 第30-35页 |
| 3.2.1 Tikhonov正则化方法 | 第30-31页 |
| 3.2.2 L1正则化算法 | 第31-35页 |
| 3.2.2.1 L1求解方法 | 第32-34页 |
| 3.2.2.2 L1算法参数的选择 | 第34-35页 |
| 3.3 仿真模型构建 | 第35-36页 |
| 3.4 仿真结果 | 第36-38页 |
| 3.5 本章小结 | 第38-39页 |
| 第四章 金属缺陷检测实验系统构建 | 第39-59页 |
| 4.1 系统的硬件组成及工作原理 | 第39页 |
| 4.2 激励源模块设计 | 第39-42页 |
| 4.3 多路选通模块设计 | 第42-43页 |
| 4.4 数据采集模块设计 | 第43-53页 |
| 4.4.1 AD采集电路的设计 | 第44-47页 |
| 4.4.2 STM32与FPGA接口设计 | 第47-48页 |
| 4.4.3 数据通信模块的设计 | 第48-49页 |
| 4.4.4 高速采集模块测试 | 第49-53页 |
| 4.5 基于LabVIEW的上位机程序设计 | 第53-57页 |
| 4.5.1 软件系统设计 | 第53-55页 |
| 4.5.2 通信接口模块设计 | 第55-56页 |
| 4.5.3 数据采集处理模块设计 | 第56-57页 |
| 4.5.4 图像显示与存储模块设计 | 第57页 |
| 4.6 本章小结 | 第57-59页 |
| 第五章 系统性能验证与金属缺陷检测结果分析 | 第59-73页 |
| 5.1 通道一致性验证 | 第59-60页 |
| 5.2 金属缺陷检测结果分析 | 第60-71页 |
| 5.2.1 双线圈传感器的金属缺陷检测结果分析 | 第60-63页 |
| 5.2.2 多线圈传感器的金属缺陷检测结果分析 | 第63-66页 |
| 5.2.3 成像方法的金属缺陷检测结果分析 | 第66-71页 |
| 5.3 本章小结 | 第71-73页 |
| 第六章 结论与展望 | 第73-75页 |
| 6.1 工作总结 | 第73页 |
| 6.2 未来展望 | 第73-75页 |
| 参考文献 | 第75-79页 |
| 硕士期间发表论文和参加科研情况 | 第79-81页 |
| 致谢 | 第81页 |
