上海光源光束线站TRXEOL方法的研究和实现
| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-12页 |
| 第1章 绪论 | 第12-22页 |
| ·TRXEOL 方法的发展 | 第12-19页 |
| ·时间分辨光谱技术 | 第12-13页 |
| ·TRXEOL 方法 | 第13-14页 |
| ·optical Luminescence | 第14-15页 |
| ·同步辐射光源的发展 | 第15-18页 |
| ·TRXEOL 的发展 | 第18-19页 |
| ·本文的研究内容 | 第19-21页 |
| ·本文的创新点 | 第21-22页 |
| 第2章 TRXEOL 方法学的研究 | 第22-60页 |
| ·XEOL 激发源的时间特征 | 第22-29页 |
| ·XEOL 激发源 | 第22-23页 |
| ·电子束的产生 | 第23-24页 |
| ·电子束的注入 | 第24-28页 |
| ·激发源的脉冲特性 | 第28-29页 |
| ·注入方式的设计 | 第29页 |
| ·XEOL 的物理过程 | 第29-42页 |
| ·激发源的频谱特性 | 第30-31页 |
| ·原子核外电子的运动状态 | 第31-33页 |
| ·X 射线与物质的相互作用 | 第33-36页 |
| ·X 射线激发发光的过程 | 第36-38页 |
| ·分子退激发的动态过程 | 第38-40页 |
| ·发光寿命的描述 | 第40-42页 |
| ·XEOL 的时域探测 | 第42-58页 |
| ·XEOL 探测的基本特点 | 第42-43页 |
| ·探测器信号分析 | 第43-45页 |
| ·模拟信号处理 | 第45-50页 |
| ·前置放大器 | 第45-46页 |
| ·噪声分析 | 第46-47页 |
| ·信号滤波 | 第47-48页 |
| ·信号成形 | 第48-49页 |
| ·主放大器 | 第49-50页 |
| ·脉冲幅度分析 | 第50-51页 |
| ·脉冲时间分析 | 第51-55页 |
| ·信号再生处理 | 第55-57页 |
| ·锁相放大技术 | 第55-56页 |
| ·信号平均技术 | 第56-57页 |
| ·光子计数技术 | 第57页 |
| ·TRXEOL 探测分析 | 第57-58页 |
| ·小结 | 第58-60页 |
| 第3章 TRXEOL 实验装置的建设 | 第60-98页 |
| ·总体方案设计 | 第60-65页 |
| ·时间分辨指标 | 第60页 |
| ·方案原理 | 第60-61页 |
| ·发光衰减曲线的探测原理 | 第61-64页 |
| ·实验总体方案 | 第64-65页 |
| ·定时系统 | 第65-82页 |
| ·实验对定时系统的要求 | 第65-66页 |
| ·上海光源主定时系统 | 第66-68页 |
| ·定时系统硬件构成 | 第68-70页 |
| ·定时系统工作原理 | 第70-76页 |
| ·定时发生器原理 | 第70-72页 |
| ·串行编码原理 | 第72-74页 |
| ·定时接收器原理 | 第74-76页 |
| ·定时系统软件 | 第76-78页 |
| ·定时系统测试 | 第78-82页 |
| ·光谱仪系统 | 第82-85页 |
| ·分光部件 | 第82页 |
| ·探测器 | 第82-83页 |
| ·数据采集硬件 | 第83-84页 |
| ·控制和数据获取软件 | 第84-85页 |
| ·核电子学系统 | 第85-98页 |
| ·系统设计 | 第85-87页 |
| ·硬件选型 | 第87-95页 |
| ·信号放大器 | 第87-88页 |
| ·定时甄别器 | 第88-90页 |
| ·时伏转换及单道分析仪 | 第90-92页 |
| ·多道分析仪 | 第92-93页 |
| ·计数率仪 | 第93-95页 |
| ·系统集成 | 第95-96页 |
| ·系统测试 | 第96-98页 |
| 第4章 TRXEOL 方法的实现 | 第98-110页 |
| ·实验的基本条件 | 第98-99页 |
| ·实验流程设计 | 第99-107页 |
| ·装置的安装和连接 | 第99-101页 |
| ·光谱仪系统 | 第99页 |
| ·定时系统 | 第99-100页 |
| ·核电子学系统 | 第100页 |
| ·总体连接 | 第100-101页 |
| ·软件的预设置 | 第101-103页 |
| ·标定储存环的时间结构 | 第103-104页 |
| ·标定 TAC-SCA 的时间窗口 | 第104页 |
| ·测试样品的发光衰减曲线 | 第104-105页 |
| ·测试 XEOL 光谱 | 第105-106页 |
| ·测试 TRXEOL 光谱 | 第106-107页 |
| ·实验结果和讨论 | 第107-109页 |
| ·普通 XEOL 光谱 | 第107页 |
| ·发光衰减曲线 | 第107-108页 |
| ·TRXEOL 光谱 | 第108-109页 |
| ·小结 | 第109-110页 |
| 第5章 标定储存环的时间结构 | 第110-114页 |
| ·背景 | 第110-111页 |
| ·发光衰减曲线不完美 | 第110-111页 |
| ·样品点时间标定 | 第111页 |
| ·基本原理 | 第111-112页 |
| ·测试结果及分析 | 第112-114页 |
| 总结与展望 | 第114-116页 |
| 参考文献 | 第116-122页 |
| 个人简历及攻读学位期间发表的学术论文 | 第122-124页 |
| 致谢 | 第124页 |
