硅锗/硅多量子阱红外敏感薄膜材料实验测试系统
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 目录 | 第7-9页 |
| 1 绪论 | 第9-18页 |
| ·微测辐射热计发展概况 | 第9-12页 |
| ·微测辐射热计薄膜材料概述 | 第12-15页 |
| ·红外敏感薄膜材料种类 | 第12-14页 |
| ·红外敏感薄膜材料热学性能 | 第14-15页 |
| ·国内外红外探测器测试系统概况 | 第15-17页 |
| ·本文研究目的及主要内容 | 第17-18页 |
| 2 实验测试系统总体方案设计 | 第18-28页 |
| ·实验测试系统总体方案 | 第18-21页 |
| ·薄膜材料样片TCR参数测试要求 | 第18-19页 |
| ·薄膜材料样片TCR参数测试难点 | 第19-20页 |
| ·实验测试系统设计方案 | 第20-21页 |
| ·像元阵列驱动电路方案 | 第21-23页 |
| ·像元信号调理电路方案 | 第23-25页 |
| ·实验测试系统主控制器方案 | 第25-26页 |
| ·数据通信接口方案 | 第26页 |
| ·上位机软件方案 | 第26-27页 |
| ·本章小结 | 第27-28页 |
| 3 硅锗/硅多量子阱像元阵列驱动电路 | 第28-37页 |
| ·硅锗/硅多量子阱敏感像元数学模型 | 第28-30页 |
| ·像元阵列驱动电路硬件设计 | 第30-33页 |
| ·驱动电路时序控制设计 | 第33-35页 |
| ·本章小结 | 第35-37页 |
| 4 硅锗/硅多量子阱像元阵列数据采集电路 | 第37-67页 |
| ·主控制器FPGA | 第37-42页 |
| ·时钟模块设计 | 第38-39页 |
| ·像元阵列信号采集模块设计 | 第39-40页 |
| ·FIFO模块设计 | 第40-41页 |
| ·USB通信控制器模块设计 | 第41-42页 |
| ·像元信号调理电路 | 第42-48页 |
| ·ADC电路 | 第48-54页 |
| ·ADC驱动输入端设计 | 第49-50页 |
| ·ADC采样量化时序控制设计 | 第50-53页 |
| ·ADC硬件电路PCB布局布线注意事项 | 第53-54页 |
| ·USB2.0通信控制器电路 | 第54-64页 |
| ·USB协议简介 | 第55-56页 |
| ·EZ-USB FX2结构 | 第56-57页 |
| ·EZ-USB FX2的枚举过程 | 第57-59页 |
| ·SLAVE FIFOs程序设计 | 第59-62页 |
| ·FX2固件程序 | 第62-64页 |
| ·LabVIEW数据处理程序设计 | 第64-66页 |
| ·自定义USB设备驱动与NI-VISA | 第64-65页 |
| ·LabVIEW数据通信与数据采集程序 | 第65-66页 |
| ·本章小结 | 第66-67页 |
| 5 实验与分析 | 第67-74页 |
| ·实验测试系统性能评估 | 第67-69页 |
| ·薄膜材料TCR参数测试及热学参数分析 | 第69-73页 |
| ·薄膜材料样片TCR参数测试 | 第69-71页 |
| ·薄膜材料样片热导与热容分析 | 第71-73页 |
| ·本章小结 | 第73-74页 |
| 6 总结与展望 | 第74-76页 |
| ·工作总结 | 第74-75页 |
| ·工作展望 | 第75-76页 |
| 致谢 | 第76-77页 |
| 参考文献 | 第77-81页 |
| 附录 | 第81页 |
