| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-12页 |
| §1.1 缺陷概论 | 第9-10页 |
| ·缺陷定义 | 第9页 |
| ·Volterra 过程及液晶缺陷分类 | 第9-10页 |
| ·液晶缺陷的成因 | 第10页 |
| §1.2 液晶连续体理论简介 | 第10-11页 |
| §1.3 本文主要工作 | 第11-12页 |
| 第二章 脐缺陷的静态理论 | 第12-26页 |
| §2.1 无穷简并下的 Fréedericksz 转变 | 第12-18页 |
| ·无摩擦 VA 液晶模型 | 第12-13页 |
| ·弹性项处理 | 第13-14页 |
| ·基板弹性形变能 | 第14-15页 |
| ·基板介电自由能 | 第15-17页 |
| ·自由能总和 | 第17-18页 |
| §2.2 变换坐标后的 Fréedericksz 转变 | 第18-26页 |
| ·定义变化坐标后的参量 | 第18-20页 |
| ·基板自由能总和 | 第20-26页 |
| 第三章 脐缺陷的动态理论 | 第26-31页 |
| §3.1 切变力方向与缺陷流向垂直 | 第26-29页 |
| ·建立简单模型 | 第26页 |
| ·理论分析 | 第26-29页 |
| §3.2 切变力方向与缺陷流向平行 | 第29-31页 |
| ·建立简单模型 | 第29页 |
| ·理论分析 | 第29-31页 |
| 第四章 实验研究分析 | 第31-38页 |
| §4.1 奥林巴斯偏光显微镜 | 第31-33页 |
| ·显微镜历史及发展 | 第31页 |
| ·偏光显微镜构造及其原理 | 第31-33页 |
| §4.2 实验准备简介 | 第33-34页 |
| ·偏光显微镜的调试 | 第33页 |
| ·液晶盒的灌制及相关处理 | 第33-34页 |
| §4.3 实验观察及分析 | 第34-38页 |
| ·静态属性及分析 | 第34-36页 |
| ·动态特性及分析 | 第36-38页 |
| 第五章 结论 | 第38-39页 |
| 参考文献 | 第39-42页 |
| 附录A | 第42-44页 |
| 致谢 | 第44-45页 |
| 攻读硕士学位期间所取得的科研成果 | 第45页 |