嵌入式软件测试改进V模型的研究及构建
| 中文摘要 | 第1页 |
| 英文摘要 | 第4-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-11页 |
| ·研究背景 | 第8-9页 |
| ·国内外的研究动态 | 第9页 |
| ·研究目标 | 第9-10页 |
| ·本论文的结构 | 第10-11页 |
| 第二章 嵌入式软件测试关键技术研究 | 第11-21页 |
| ·软件测试概述 | 第11-12页 |
| ·软件测试基本流程 | 第11页 |
| ·软件测试方法的分类 | 第11-12页 |
| ·嵌入式系统的开发流程 | 第12-14页 |
| ·嵌入式软件结构化测试 | 第14-17页 |
| ·嵌入式软件测试 | 第14页 |
| ·TEmb 方法通用元素 | 第14-16页 |
| ·TEmb 方法的基本原理 | 第16-17页 |
| ·软件开发的关键技术 | 第17-20页 |
| ·测试驱动开发 | 第17-18页 |
| ·极限编程（XP）软件开发方法 | 第18-19页 |
| ·UML 技术在嵌入式软件测试中的应用 | 第19-20页 |
| ·本章小结 | 第20-21页 |
| 第三章 软件测试模型分析和研究 | 第21-32页 |
| ·测试模型的研究和比较 | 第21-24页 |
| ·V 测试模型 | 第21-22页 |
| ·X 测试模型 | 第22-23页 |
| ·W 测试模型 | 第23-24页 |
| ·几种测试模型的比较和总结 | 第24页 |
| ·软件测试改进的思路 | 第24-31页 |
| ·软件测试的目的和软件测试的数据流图 | 第25-26页 |
| ·基于传统模型的软件测试存在问题分析 | 第26-27页 |
| ·基于需求变更的软件测试存在问题分析 | 第27-29页 |
| ·基于XP 的软件测试存在问题分析 | 第29-30页 |
| ·基于TDD 的软件测试存在问题分析 | 第30-31页 |
| ·本章小结 | 第31-32页 |
| 第四章 改进的嵌入式软件测试模型 | 第32-47页 |
| ·测试模型的选择标准 | 第32-33页 |
| ·嵌入式软件测试不同于一般软件测试的特点 | 第33页 |
| ·改进的测试模型 | 第33-40页 |
| ·改进模型包含的测试活动 | 第34-36页 |
| ·改进模型的特点 | 第36-40页 |
| ·嵌入式软件测试体系结构 | 第40-46页 |
| ·嵌入式软件需求测试 | 第40-42页 |
| ·嵌入式软件单元测试 | 第42-43页 |
| ·嵌入式软件集成测试 | 第43-44页 |
| ·嵌入式软件系统测试 | 第44-46页 |
| ·本章小结 | 第46-47页 |
| 第五章 嵌入式软件测试模型的应用研究 | 第47-56页 |
| ·构造适合嵌入式系统软件测试的通用方案 | 第47-49页 |
| ·TEmb 方法通用元素和V 模型各个阶段的结合 | 第47-48页 |
| ·UML 是嵌入式软件测试不可或缺的技术 | 第48-49页 |
| ·案例描述 | 第49页 |
| ·案例分析 | 第49-55页 |
| ·测试环境建立 | 第49-50页 |
| ·测试设计 | 第50-54页 |
| ·案例测试评估与提高 | 第54-55页 |
| ·本章小结 | 第55-56页 |
| 第六章 结束语 | 第56-57页 |
| ·结论 | 第56页 |
| ·今后的研究方向 | 第56-57页 |
| 参考文献 | 第57-60页 |
| 致谢 | 第60-61页 |
| 在学期间发表论文和参加科研情况 | 第61页 |
