| 中文摘要 | 第1-8页 |
| 英文摘要 | 第8-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-19页 |
| ·项目背景和意义 | 第10-11页 |
| ·项目背景 | 第10-11页 |
| ·项目研究目的和意义 | 第11页 |
| ·ICP-MS定值技术发展现状分析 | 第11-14页 |
| ·ICP-MS的技术分类和技术特点 | 第12-14页 |
| ·ICP-MS技术的应用 | 第14页 |
| ·同位素稀释质谱定值技术 | 第14-19页 |
| ·IDMS在化学计量领域中的地位 | 第15-16页 |
| ·ID-ICPMS技术的应用 | 第16-19页 |
| 第2章 同位素稀释剂 | 第19-30页 |
| ·引言 | 第19-20页 |
| ·同位素稀释剂化学纯度的测定 | 第20-26页 |
| ·稀释剂的同位素丰度比值测定 | 第26-29页 |
| ·同位素比值测定不确定度分析 | 第29-30页 |
| 第3章 同位素稀释(IDMS)定值试验方法 | 第30-40页 |
| ·引言 | 第30页 |
| ·定值原理 | 第30-31页 |
| ·定值的特点 | 第31-33页 |
| ·同位素稀释质谱定值技术研究 | 第33-35页 |
| ·最佳稀释比的确定 | 第35-36页 |
| ·分析方法的主要误差来源及消除方法研究 | 第36-40页 |
| 第4章 分析过程空白控制研究 | 第40-48页 |
| ·分析过程空白 | 第40页 |
| ·实验室的环境 | 第40-41页 |
| ·高纯试剂提纯装置 | 第41-43页 |
| ·氨水提纯方案 | 第43页 |
| ·实验器皿的清洗 | 第43-44页 |
| ·高纯氨水中痕量杂质成分测定 | 第44-48页 |
| 第5章 同位素稀释电感耦合等离子体质谱定值技术应用研究 | 第48-67页 |
| ·引言 | 第48-49页 |
| ·溶液中Pb、Cr元素的定值 | 第49-55页 |
| ·试验方案 | 第49-50页 |
| ·Pb元素同位素稀释法定值实验 | 第50-52页 |
| ·Cr元素同位素稀释法定值实验 | 第52-54页 |
| ·ID-ICPMS定值不确定度评定 | 第54-55页 |
| ·Pb元素分析结果的比对 | 第55-60页 |
| ·比对样品的配制 | 第56页 |
| ·溶液配制值及其不确定度评估 | 第56-58页 |
| ·数据分析与处理 | 第58-60页 |
| ·结论 | 第60页 |
| ·高纯金属中痕量杂质元素定值 | 第60-67页 |
| ·溶液的配制与测定 | 第61页 |
| ·质谱测量 | 第61-62页 |
| ·ICP-MS法基体效应的校正 | 第62-64页 |
| ·高纯镉、铟定值巾的非质谱干扰效应研究 | 第64-66页 |
| ·定值不确定度分析 | 第66页 |
| ·结论 | 第66-67页 |
| 结论 | 第67-69页 |
| 参考文献 | 第69-72页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第72页 |
| 致谢 | 第72-73页 |
| 个人简历 | 第73页 |