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二维声子晶体结构设计及其特性研究

摘要第1-7页
Abstract第7-13页
第1章 绪论第13-27页
   ·引言第13-14页
   ·声子晶体的概念及基本特征第14-17页
   ·声子晶体的研究进展第17-24页
     ·类比光子晶体的性质方面第17-18页
     ·在产生机理研究方面第18-19页
     ·在局域态的研究方面第19页
     ·在理论研究方面第19-21页
     ·在研究对象方面第21-23页
     ·在样品制备方面第23-24页
   ·本论文研究的内容第24-27页
     ·课题研究的背景和意义第24-25页
     ·本论文的研究内容第25-27页
第2章 平面波展开法第27-47页
   ·弹性波波动方程第27-30页
   ·波动方程的展开第30-41页
     ·晶格周期函数的傅立叶展开第30-32页
     ·固体理论的布洛赫定理第32-34页
     ·密度 弹性常数的展开第34-37页
     ·液相(或气相)体系波动方程的展开第37-40页
     ·固相体系波动方程的展开第40-41页
   ·算法的执行第41-46页
     ·几种常用结构因子第41-45页
     ·傅立叶变换的平移性第45页
     ·执行步骤第45-46页
   ·本章小结第46-47页
第3章 二维声子晶体带隙结构研究第47-63页
   ·声子晶体带隙的研究方法第47-49页
     ·带隙的研究方法第47页
     ·组分材料的选择及其声学常数第47-49页
   ·理论模型的晶体学基础第49-52页
     ·基本的晶格结构第49-51页
     ·"原子"的填充系数第51页
     ·"原子"的形状第51-52页
   ·二维声子晶体的带隙特性第52-61页
     ·能带结构第52-55页
     ·带隙分布图第55-58页
     ·态密度第58-59页
     ·结构参数对带隙相对宽度的影响第59-61页
   ·本章小结第61-63页
第4章 二维声子晶体缺陷态及缺陷耦合特性第63-77页
   ·点缺陷与线缺陷第63-70页
     ·点缺陷的能带结构特征第63-65页
     ·点缺陷的模场分布第65-67页
     ·线缺陷的能带结构特征第67-68页
     ·线缺陷的模场分布第68-70页
   ·点缺陷间的耦合第70-76页
     ·点缺陷的耦合模型第70-71页
     ·点缺陷间的耦合特性第71-76页
   ·本章小结第76-77页
第5章 二维声子晶体位错缺陷界面传导模的研究第77-96页
   ·同质位错结第77-82页
     ·同质位错结模型第77-79页
     ·横向位错效应第79-80页
     ·纵向位错效应第80-82页
   ·异质位错结第82-95页
     ·SCSC异质结特性第82-87页
     ·SCSS异质结特性第87-95页
   ·本章小结第95-96页
第6章 二维声子晶体异质结构波导特性研究第96-109页
   ·异质线缺陷结构第96-102页
     ·计算模型第96-97页
     ·数值计算结果及讨论第97-102页
   ·三明治型异质结构第102-105页
     ·计算模型第102页
     ·数值计算结果及讨论第102-105页
   ·RRTC型异质结构第105-107页
   ·本章小结第107-109页
结论第109-113页
参考文献第113-124页
攻读博士学位期间发表的论文和取得的科研成果第124-126页
致谢第126-127页
个人简历第127页

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