TDLAS信噪比及检测下限计算方法的研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-8页 |
| 插图和附表清单 | 第8-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-27页 |
| ·研究背景、目的及意义 | 第9-12页 |
| ·研究背景 | 第9-11页 |
| ·研究目的及意义 | 第11-12页 |
| ·痕量气体检测方法概要 | 第12-19页 |
| ·非光学检测方法 | 第12-14页 |
| ·光学检测方法 | 第14-19页 |
| ·TDLAS信噪比及检测下限的研究现状 | 第19-25页 |
| ·国外研究进展及现状 | 第19-22页 |
| ·国内研究进展及现状 | 第22-25页 |
| ·本文主要研究内容及结构 | 第25-27页 |
| 第2章 TDLAS痕量气体检测基本理论与检测系统 | 第27-41页 |
| ·气体吸收光谱基础 | 第27-33页 |
| ·气体分子吸收光谱 | 第27-29页 |
| ·吸收线谱线展宽与谱线线型 | 第29-32页 |
| ·吸收光谱谱线的选择 | 第32-33页 |
| ·TDLAS检测系统构成 | 第33-39页 |
| ·激光光源 | 第33-35页 |
| ·吸收池 | 第35-36页 |
| ·光电探测器 | 第36-37页 |
| ·锁相放大器 | 第37-39页 |
| ·驱动电路 | 第39页 |
| ·吸收信号的测定方法 | 第39-41页 |
| 第3章 谐波检测方法 | 第41-48页 |
| ·波长调制光谱方法 | 第41-43页 |
| ·频率调制光谱方法 | 第43-48页 |
| 第4章 TDLAS谐波检测信噪比的计算方法 | 第48-59页 |
| ·系统噪声分析 | 第48-50页 |
| ·散粒噪声 | 第48页 |
| ·1/f噪声 | 第48-49页 |
| ·热噪声 | 第49页 |
| ·RAM噪声 | 第49页 |
| ·其他噪声 | 第49-50页 |
| ·直接吸收光谱方法信噪比的分析 | 第50页 |
| ·FM-AM方法信噪比的计算研究 | 第50-59页 |
| ·洛伦兹吸收线型情况 | 第53-56页 |
| ·高斯吸收线型情况 | 第56-59页 |
| 第5章 TDLAS谐波信号检测下限的计算方法 | 第59-63页 |
| ·检测下限的计算方法 | 第59页 |
| ·一次谐波信号检测下限的计算 | 第59-60页 |
| ·二次谐波信号检测下限的计算 | 第60-63页 |
| 第6章 总结与展望 | 第63-65页 |
| ·总结 | 第63-64页 |
| ·后续研究展望 | 第64-65页 |
| 致谢 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-72页 |
| 附录A 攻读硕士期间发表论文目录 | 第72-73页 |
| 附录B 计算程序及说明 | 第73-86页 |
