基于单片机的氨分解率检测系统的研究与开发
摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-7页 |
目录 | 第7-10页 |
第一章 绪论 | 第10-14页 |
·课题提出的背景与意义 | 第10页 |
·渗氮工艺参数检测技术的研究现状与发展评述 | 第10-13页 |
·渗氮工艺参数检测技术的研究现状 | 第10-11页 |
·数字化检测技术在渗氮工艺参数检测中的应用 | 第11-13页 |
·本论文的研究内容 | 第13页 |
·本章小结 | 第13-14页 |
第二章 分解率检测系统总体设计方案 | 第14-23页 |
·引言 | 第14-15页 |
·渗氮工艺参数的检测原理 | 第15-16页 |
·方案设计 | 第16-19页 |
·渗氮工艺中氨分解率的检测方案 | 第16-17页 |
·流程控制设计 | 第17-18页 |
·处理器的选择 | 第18-19页 |
·系统的软硬件总体设计 | 第19-21页 |
·系统设计的原则 | 第19-20页 |
·系统总体设计 | 第20-21页 |
·系统硬件概要设计 | 第21页 |
·系统软件概要设计 | 第21页 |
·相关的技术阐述 | 第21-22页 |
·本章小结 | 第22-23页 |
第三章 系统的硬件设计 | 第23-36页 |
·引言 | 第23-24页 |
·单片机的选择 | 第24页 |
·前向通道设计 | 第24-28页 |
·传感器的分析和设计过程 | 第24-25页 |
·信号处理 | 第25-28页 |
·数据存储 | 第28-30页 |
·存储器选择原则 | 第28页 |
·系统存储器分析 | 第28-29页 |
·存储地址的分配 | 第29-30页 |
·数据通信 | 第30-31页 |
·控制部分 | 第31-32页 |
·人机对话接口设计 | 第32-33页 |
·键盘接口设计 | 第32页 |
·液晶显示器接口设计 | 第32-33页 |
·系统复位电路设计 | 第33-34页 |
·看门狗的用途 | 第33页 |
·复位设计 | 第33-34页 |
·时钟设计 | 第34-35页 |
·时钟选择 | 第34页 |
·时钟设计 | 第34-35页 |
·电压转换设计 | 第35页 |
·本章小结 | 第35-36页 |
第四章 系统软件设计 | 第36-52页 |
·引言 | 第36-37页 |
·系统的软件设计 | 第37-40页 |
·软件的总体设计 | 第37-38页 |
·功能模块设计 | 第38-40页 |
·标度变换 | 第40页 |
·程序设计 | 第40-44页 |
·主程序和监控程序设计 | 第40-42页 |
·中断服务程序设计 | 第42-44页 |
·存储结构设计 | 第44-45页 |
·通信协议设计 | 第45-47页 |
·控制流过程设计 | 第47-49页 |
·图形显示设计 | 第49-51页 |
·算法设计 | 第49-50页 |
·图形显示 | 第50-51页 |
·本章小结 | 第51-52页 |
第五章 系统的抗干扰研究 | 第52-59页 |
·系统的干扰现象研究 | 第52页 |
·硬件干扰及其抗干扰措施 | 第52-54页 |
·抑制干扰源 | 第52页 |
·切断干扰传播路径 | 第52-54页 |
·提高敏感器件的抗干扰性能 | 第54页 |
·软件干扰及其抗干扰措施 | 第54-57页 |
·CPU抗干扰技术 | 第54-56页 |
·输入输出抗干扰技术 | 第56-57页 |
·本章小结 | 第57-59页 |
第六章 分解率检测系统的分析 | 第59-69页 |
·引言 | 第59页 |
·偏倚和变差 | 第59-61页 |
·高质量数据的判断准则 | 第59页 |
·偏倚和变差的计算 | 第59-61页 |
·原因分析 | 第61页 |
·线性 | 第61-63页 |
·稳定性 | 第63-66页 |
·多种控制图比较 | 第63页 |
·(?)-R控制图控制原理和特点 | 第63-64页 |
·(?)-R控制图的应用 | 第64-66页 |
·重复性和再现性 | 第66-68页 |
·应用场合 | 第66页 |
·二者的可接受的标准 | 第66页 |
·重复性和再现性分析 | 第66-68页 |
·本章小结 | 第68-69页 |
第七章 总结与展望 | 第69-71页 |
·全文总结 | 第69-70页 |
·工作展望 | 第70-71页 |
参考文献 | 第71-75页 |
致谢 | 第75页 |