频谱校正理论在电参量检测中的应用研究
| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-17页 |
| ·电参量检测概述 | 第9-11页 |
| ·电参量检测的释义及要求 | 第9-10页 |
| ·电参量检测方式的发展历程 | 第10-11页 |
| ·电参量测量方法研究现状 | 第11-13页 |
| ·电参量测量的主要方法 | 第11-12页 |
| ·常见的交流采样方式 | 第12-13页 |
| ·本文的研究背景 | 第13-15页 |
| ·基于DFT的电参量检测 | 第13-14页 |
| ·提高DFT检测精度的方法 | 第14-15页 |
| ·本文的主要工作 | 第15-17页 |
| 第2章 频谱分析基本理论 | 第17-30页 |
| ·信号的分析和处理概述 | 第17-18页 |
| ·信号的模拟处理和数字处理 | 第17页 |
| ·信号的时域分析和频域分析 | 第17-18页 |
| ·模拟信号数字化 | 第18-19页 |
| ·模拟信号的采样 | 第18页 |
| ·时域采样定理 | 第18-19页 |
| ·傅立叶变换概述 | 第19-22页 |
| ·傅立叶变换的几种形式 | 第19-21页 |
| ·快速傅立叶变换 | 第21-22页 |
| ·DFT在实际应用中的问题 | 第22-24页 |
| ·用DFT逼近连续时间信号的频谱 | 第22-23页 |
| ·频率分辨率及DFT参数的选择 | 第23-24页 |
| ·频谱分析的局限性 | 第24-27页 |
| ·DFT离散频谱误差分析 | 第24-27页 |
| ·常见的窗函数类型 | 第27-30页 |
| ·窗的类型选择 | 第27页 |
| ·组合窗的频谱表达式 | 第27-28页 |
| ·常见窗函数 | 第28-30页 |
| 第3章 频谱校正方法 | 第30-48页 |
| ·频谱校正理论的研究现状 | 第30-31页 |
| ·频谱泄漏误差的理论分析 | 第31-34页 |
| ·连续和离散单频率正弦信号的频谱 | 第31-33页 |
| ·频谱泄漏误差的数学模型 | 第33页 |
| ·频谱误差校正的基本原理 | 第33-34页 |
| ·离散频谱校正方法 | 第34-48页 |
| ·FFT+FT细化分析法 | 第34-35页 |
| ·多点卷积幅值校正法 | 第35-38页 |
| ·能量重心校正法 | 第38-41页 |
| ·峰值搜寻法 | 第41-42页 |
| ·比值公式法 | 第42-44页 |
| ·相位差校正法 | 第44-48页 |
| 第4章 仿真实例及结果分析 | 第48-64页 |
| ·普通加窗DFT算法仿真 | 第48-50页 |
| ·FFT+FT细化分析法仿真 | 第50-51页 |
| ·多点卷积幅值校正法仿真 | 第51-53页 |
| ·能量重心校正法仿真 | 第53-56页 |
| ·比值公式法(内插法)仿真 | 第56-58页 |
| ·相位差校正法仿真 | 第58-64页 |
| 第5章 频谱校正算法在同期装置中的实现 | 第64-73页 |
| ·检测算法的原理 | 第65页 |
| ·检测算法的实现步骤 | 第65-67页 |
| ·算法实现的参数选择及仿真结果分析 | 第67-72页 |
| ·频谱分辨率及DFT参数的选择 | 第67页 |
| ·仿真结果分析 | 第67-71页 |
| ·算法的完善 | 第71-72页 |
| ·新算法的特点 | 第72-73页 |
| 结论 | 第73-75页 |
| 参考文献 | 第75-79页 |
| 致谢 | 第79-80页 |
| 附录A(攻读学位期间所发表的学术论文目录) | 第80页 |
