| 摘要 | 第1-7页 |
| ABSTRACT | 第7-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-17页 |
| ·电路测试技术发展概述 | 第8-10页 |
| ·电路测试中的基本概念 | 第10-14页 |
| ·测试 | 第10-11页 |
| ·故障 | 第11页 |
| ·故障模型 | 第11-13页 |
| ·测试产生(Test-Generation) | 第13-14页 |
| ·故障覆盖率(Fault Coverage) | 第14页 |
| ·电路测试的发展趋势 | 第14-15页 |
| ·全速测试(At-Speed Testing) | 第14页 |
| ·可测试性设计(Design For Testability) | 第14-15页 |
| ·低功耗测试 | 第15页 |
| ·电流测试(Current Testing) | 第15页 |
| ·本文的主要工作 | 第15-17页 |
| 第二章 电流测试方法 | 第17-26页 |
| ·电流测试技术 | 第17页 |
| ·I_(DDQ)测试方法 | 第17-19页 |
| ·I_(DDQ)测试发展概况 | 第18页 |
| ·I_(DDQ)测试方法原理 | 第18-19页 |
| ·I_(DDT)测试方法 | 第19-25页 |
| ·I_(DDT)测试技术发展概况 | 第19-20页 |
| ·瞬态电流的估计 | 第20-25页 |
| ·小结 | 第25-26页 |
| 第三章 全速电流测试方法 | 第26-39页 |
| ·全速电流测试方法 | 第26-29页 |
| ·测试原理# | 第26-28页 |
| ·测试波形 | 第28-29页 |
| ·全速电流测试生成方法 | 第29-38页 |
| ·开路故障的波形模拟 | 第29-32页 |
| ·贝叶斯优化算法 | 第32-34页 |
| ·可测试性度量 | 第34-35页 |
| ·测试生成算法 | 第35页 |
| ·实验及其结果 | 第35-38页 |
| ·小结 | 第38-39页 |
| 第四章 故障精简 | 第39-47页 |
| ·故障压缩的基本概念 | 第39-41页 |
| ·等效故障# | 第39页 |
| ·支配和隶属故障 | 第39-40页 |
| ·电压测试方法中故障压缩的两个定理 | 第40-41页 |
| ·用于全速电流测试产生中的故障精简方法 | 第41-46页 |
| ·故障省略 | 第41-42页 |
| ·故障精简 | 第42-44页 |
| ·故障模拟 | 第44-45页 |
| ·实验结果 | 第45-46页 |
| ·小结 | 第46-47页 |
| 第五章 测试生成算法的改进 | 第47-51页 |
| ·测试生成算法改进意义 | 第47页 |
| ·优化算法的改进 | 第47-49页 |
| ·编码压缩 | 第47-48页 |
| ·群体规模的缩小 | 第48-49页 |
| ·终止规则的变化 | 第49页 |
| ·实验结果及分析 | 第49-50页 |
| ·小结 | 第50-51页 |
| 结束语 | 第51-53页 |
| 参考文献 | 第53-57页 |
| 致谢 | 第57-58页 |
| 附录(攻读学位期间发表论文目录) | 第58页 |