| 中文摘要 | 第1-3页 |
| 英文摘要 | 第3-6页 |
| 1 绪论 | 第6-10页 |
| 1．1 测试仪器的演化与发展 | 第6-7页 |
| 1．2 VXI总线技术 | 第7页 |
| 1．3 VXI总线仪器应用现状 | 第7-9页 |
| 1．4 VXI总线弹丸动态参数测试系统 | 第9-10页 |
| 2 测试系统硬件集成 | 第10-21页 |
| 2．1 VXI总线系统 | 第10-16页 |
| 2．1．1 VXI总线系统的总线结构 | 第10-12页 |
| 2．1．2 VXI总线系统的机械结构 | 第12页 |
| 2．1．3 VXI总线系统的体系结构 | 第12-16页 |
| 2．2 测试系统硬件集成 | 第16-21页 |
| 2．2．1 IEEE-1394串行数据总线 | 第17-18页 |
| 2．2．2 HPE8491A VXI零槽控制器 | 第18页 |
| 2．2．3 JV 53116 VXI模块 | 第18-19页 |
| 2．2．4 JV53124 VXI模块 | 第19-21页 |
| 3 测试系统软件集成基础 | 第21-30页 |
| 3．1 LabWindows／CVI软件平台 | 第21-23页 |
| 3．2 虚拟仪器软件结构（VISA） | 第23-27页 |
| 3．3 仪器驱动程序 | 第27-30页 |
| 3．3．1 仪器驱动器的结构 | 第27-28页 |
| 3．3．2 仪器驱动器的设计 | 第28-30页 |
| 4 VXI总线数据采集系统软件集成 | 第30-58页 |
| 4．1 VXI总线数据采集系统软件 | 第30-36页 |
| 4．1．1 主页控制 | 第30-31页 |
| 4．1．2 系统自检、初始化 | 第31页 |
| 4．1．3 采样参数设置 | 第31-33页 |
| 4．1．4 数据采集 | 第33-34页 |
| 4．1．5 时域波形 | 第34-36页 |
| 4．2 信号分析与处理软件 | 第36-44页 |
| 4．2．1 积分、二次积分 | 第36-38页 |
| 4．2．2 微分、二次微分 | 第38-39页 |
| 4．2．3 频谱、功率谱分析 | 第39-42页 |
| 4．2．4 相关分析 | 第42-44页 |
| 4．3 VXI总线数据采集系统测试弹丸爆炸冲击波参数 | 第44-58页 |
| 4．3．1 爆炸冲击波理论 | 第44-46页 |
| 4．3．2 弹丸爆炸冲击波参数测试与处理 | 第46-58页 |
| 5 VXI总线时间参数测试系统软件集成 | 第58-72页 |
| 5．1 JV53124底层寄存器的读写 | 第58-65页 |
| 5．2 JV53124编程 | 第65-68页 |
| 5．3 VXI总线时间参数测试系统软件 | 第68-71页 |
| 5．4 时间参数测试系统在弹丸动态参数测试中应用 | 第71-72页 |
| 6 VXI总线弹丸动态参数测试系统的校准与误差分析 | 第72-74页 |
| 结束语 | 第74-75页 |
| 致谢 | 第75-76页 |
| 参考文献 | 第76-80页 |
| 附录A VXI总线在各连接器上对应位置及其定义 | 第80-85页 |
| 附录B 数据采集与信号分析、处理软件源代码 | 第85页 |
| 附录C 时间参数测试软件源代码 | 第85页 |