大功率激光器发射性能测试系统的研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-11页 |
| ·研究背景 | 第9页 |
| ·激光加工技术简介 | 第9页 |
| ·激光技术的发展前景 | 第9-10页 |
| ·本文的主要内容 | 第10-11页 |
| 第二章 激光的原理 | 第11-21页 |
| ·激光的基础知识 | 第11-14页 |
| ·能级 | 第11页 |
| ·自然光的产生 | 第11页 |
| ·产生激光的理论基础 | 第11-13页 |
| ·激光器的特性 | 第13-14页 |
| ·常用的激光光束质量评价参数的特性分析 | 第14-20页 |
| ·远场发散角 | 第14-15页 |
| ·焦斑尺寸 | 第15页 |
| ·衍射极限倍数β因子 | 第15-17页 |
| ·M~2 因子 | 第17-18页 |
| ·Strehl 比 | 第18页 |
| ·环围能量（功率）比BQ 值 | 第18-19页 |
| ·结论 | 第19-20页 |
| ·本章小结 | 第20-21页 |
| 第三章 激光器发射性能测试的基本原理 | 第21-34页 |
| ·激光能量和功率的测量 | 第21-27页 |
| ·测量激光能量和功率的方法概述 | 第21-22页 |
| ·高能激光能量和功率的直接测量技术 | 第22-25页 |
| ·光束取样技术 | 第25-27页 |
| ·功率密度的测量 | 第27-29页 |
| ·发散角的测量 | 第29-33页 |
| ·测量激光束发散角的概述 | 第29-30页 |
| ·焦斑法测量激光发散角原理 | 第30-31页 |
| ·光束半径的定义 | 第31页 |
| ·光束半径的测量方法 | 第31-33页 |
| ·本章小结 | 第33-34页 |
| 第四章 激光功率计的设计 | 第34-48页 |
| ·原理框图 | 第34页 |
| ·光电传感器 | 第34-35页 |
| ·调理电路模块 | 第35-37页 |
| ·前置放大 | 第35页 |
| ·可控增益放大电路 | 第35-36页 |
| ·跟随电路 | 第36-37页 |
| ·信号采集模块 | 第37-39页 |
| ·基本操作及时序 | 第37-39页 |
| ·A/D 与单片机的连接图 | 第39页 |
| ·液晶显示模块 | 第39-40页 |
| ·液晶显示模块概述 | 第39页 |
| ·接口时序 | 第39-40页 |
| ·液晶屏与单片机连接图 | 第40页 |
| ·AVR 单片机及外围电路 | 第40-44页 |
| ·AVR 简介 | 第40-42页 |
| ·ATMEGA16 简介 | 第42-43页 |
| ·ATMEGA16 外围电路设计 | 第43-44页 |
| ·功率计的标定 | 第44-45页 |
| ·软件设计 | 第45-47页 |
| ·软件开发环境 | 第45页 |
| ·总体软件设计 | 第45-47页 |
| ·本章小结 | 第47-48页 |
| 第五章 实验结果 | 第48-51页 |
| ·用于标定的功率计介绍 | 第48-50页 |
| ·功率测量结果 | 第50-51页 |
| 结论 | 第51-52页 |
| 致谢 | 第52-53页 |
| 参考文献 | 第53-54页 |
