PXI任意波形发生器补偿及校准技术研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-15页 |
| ·课题研究背景及意义 | 第10-11页 |
| ·国内外发展现状 | 第11-13页 |
| ·国外发展现状 | 第11-12页 |
| ·国内发展现状 | 第12-13页 |
| ·课题来源及研究目的 | 第13-14页 |
| ·主要研究内容 | 第14页 |
| ·本文结构 | 第14-15页 |
| 第2章 PXI任意波形发生器补偿及校准技术 | 第15-25页 |
| ·PXI任意波形发生器 | 第15-19页 |
| ·PXI任意波形发生器概述 | 第15-16页 |
| ·PXI任意波形发生器工作原理 | 第16-17页 |
| ·PXI任意波形发生器补偿及校准技术指标 | 第17-18页 |
| ·PXI任意波形发生器误差分析 | 第18-19页 |
| ·补偿和校准技术研究 | 第19-20页 |
| ·补偿技术研究 | 第19页 |
| ·校准技术研究 | 第19-20页 |
| ·补偿及校准实现方法 | 第20-23页 |
| ·补偿方法对比 | 第20-21页 |
| ·分段线性插值 | 第21-22页 |
| ·校准方式 | 第22-23页 |
| ·补偿及校准方案 | 第23-24页 |
| ·补偿及校准数据采集系统组成 | 第23页 |
| ·补偿及校准实现方案比较和选择 | 第23-24页 |
| ·本章小结 | 第24-25页 |
| 第3章 补偿及校准数据采集 | 第25-42页 |
| ·电路及参数分析 | 第25-27页 |
| ·直流产生电路及参数分析 | 第25-26页 |
| ·正弦波产生电路及参数分析 | 第26页 |
| ·方波产生电路及参数分析 | 第26-27页 |
| ·其它波形产生电路及参数分析 | 第27页 |
| ·补偿及校准参数测量方法 | 第27-33页 |
| ·直流参数测量 | 第28页 |
| ·正弦波参数测量 | 第28-31页 |
| ·方波参数测量 | 第31-32页 |
| ·其它波形参数测量 | 第32-33页 |
| ·补偿及校准数据获取 | 第33-36页 |
| ·参数测量装置选择原则 | 第33-35页 |
| ·自动测试系统 | 第35-36页 |
| ·数据采集软件实现 | 第36-41页 |
| ·LabWindows/CVI简介 | 第36-37页 |
| ·软件编程采用算法分析 | 第37-38页 |
| ·软面板的设计 | 第38-40页 |
| ·数据采集软件设计 | 第40-41页 |
| ·本章小结 | 第41-42页 |
| 第4章 补偿及校准实现 | 第42-58页 |
| ·补偿及校准实现的总体方案设计 | 第42-47页 |
| ·总体方案设计 | 第42-43页 |
| ·可编程逻辑器件的选择 | 第43-44页 |
| ·EEPROM选型 | 第44-45页 |
| ·嵌入式处理器的选择 | 第45-46页 |
| ·Nios II处理器开发平台的建立 | 第46-47页 |
| ·硬件设计 | 第47-51页 |
| ·NIOS II嵌入式处理器总体设计 | 第47页 |
| ·NIOS II处理器外围设备设计 | 第47-48页 |
| ·NIOS II处理器存储器设计 | 第48-49页 |
| ·EEPROM存储器逻辑设计 | 第49-51页 |
| ·软件设计 | 第51-56页 |
| ·需求分析 | 第51-52页 |
| ·Nios II CPU软件设计 | 第52-54页 |
| ·上位机的软件控制 | 第54-56页 |
| ·软硬件调试 | 第56-57页 |
| ·本章小结 | 第57-58页 |
| 第5章 补偿及校准测试结果及误差分析 | 第58-66页 |
| ·各性能参数测试方法 | 第58-59页 |
| ·幅度范围、偏置范围测试方法 | 第58页 |
| ·幅度平坦度测试方法 | 第58-59页 |
| ·测试结果 | 第59-63页 |
| ·幅度及偏置范围测量结果 | 第59-60页 |
| ·幅度平坦度测量结果 | 第60-63页 |
| ·误差来源分析 | 第63-65页 |
| ·测量仪器误差 | 第63-64页 |
| ·补偿及校准方法的误差 | 第64-65页 |
| ·本章小结 | 第65-66页 |
| 结论 | 第66-67页 |
| 参考文献 | 第67-71页 |
| 致谢 | 第71-72页 |
