保偏光纤偏振消光比测试系统研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-21页 |
| ·保偏光纤 | 第7-11页 |
| ·保偏光纤简介 | 第7-8页 |
| ·保偏光纤主要参数 | 第8-10页 |
| ·保偏光纤应用和发展前景 | 第10-11页 |
| ·保偏光纤偏振消光比测量国内外研究状况 | 第11-20页 |
| ·旋转检偏器法 | 第11-12页 |
| ·偏振光时域反射法 | 第12-13页 |
| ·马赫泽德外差探测法 | 第13-14页 |
| ·斯托克斯分量法 | 第14-17页 |
| ·白光干涉法 | 第17-20页 |
| ·论文研究背景及研究意义 | 第20页 |
| ·本章小节 | 第20-21页 |
| 第二章 保偏光纤偏振消光比测试系统 | 第21-43页 |
| ·测试原理 | 第21-25页 |
| ·保偏光纤单耦合点分析理论模型 | 第21-23页 |
| ·耦合点位置和耦合强度计算理论模型 | 第23-24页 |
| ·保偏光纤偏振消光比计算理论模型 | 第24-25页 |
| ·保偏光纤偏振消光比测试系统硬件设计 | 第25-35页 |
| ·光学系统设计 | 第25-30页 |
| ·硬件电路设计 | 第30-34页 |
| ·机械结构设计 | 第34-35页 |
| ·测试仪软件设计 | 第35-42页 |
| ·系统调试模块软件设计 | 第35-36页 |
| ·控制模块软件设计 | 第36-39页 |
| ·信号处理模块软件设计 | 第39-42页 |
| ·本章小节 | 第42-43页 |
| 第三章 保偏光纤偏振消光比测试系统实验 | 第43-61页 |
| ·保偏光纤偏振消光比测量 | 第43-52页 |
| ·耦合强度测量精度分析 | 第43-45页 |
| ·检偏角度对偏振耦合测量精度影响 | 第45-48页 |
| ·干涉条纹幅度与对比度对耦合强度测量影响理论分析 | 第48-49页 |
| ·偏振消光比测量 | 第49-52页 |
| ·保偏光纤拍长测量 | 第52-56页 |
| ·测试原理 | 第52页 |
| ·实验研究 | 第52-55页 |
| ·实验结果讨论 | 第55-56页 |
| ·保偏光纤对轴角度测量 | 第56-60页 |
| ·测试原理 | 第56-59页 |
| ·实验研究 | 第59-60页 |
| ·本章小节 | 第60-61页 |
| 第四章 测试系统性能指标分析及相关影响因素 | 第61-82页 |
| ·偏振消光比测试系统相关性能指标 | 第61-65页 |
| ·测试仪空间分辨率 | 第61页 |
| ·测试仪最大扫描长度 | 第61-62页 |
| ·测试仪灵敏度 | 第62-64页 |
| ·测试仪稳定性 | 第64-65页 |
| ·扫描镜扫描速率振动对测量波形影响 | 第65-69页 |
| ·光源谱型以及光源功率对保偏光纤测量结果分析 | 第69-74页 |
| ·理论分析 | 第69-71页 |
| ·光谱变化对干涉主极大影响 | 第71-72页 |
| ·光谱变化对力致耦合点影响 | 第72-74页 |
| ·干涉条纹粗细以及分束器分光比对测量结果影响 | 第74-76页 |
| ·干涉条纹粗细对测量结果影响 | 第74-75页 |
| ·分束器分光比对测量结果影响 | 第75-76页 |
| ·其他相关影响因素 | 第76-80页 |
| ·干涉图样直流项波动 | 第76-77页 |
| ·改变探测器供电方式实验 | 第77-80页 |
| ·850nm保偏光纤偏振消光比测试系统性能 | 第80-81页 |
| ·本章小节 | 第81-82页 |
| 第五章 总结与展望 | 第82-84页 |
| 参考文献 | 第84-92页 |
| 攻读硕士学位期间发表论文和参加科研情况 | 第92-94页 |
| 致谢 | 第94页 |
