基于低相干光干涉的微波延时测量研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第1章 引言 | 第7-23页 |
| ·选题背景 | 第7-11页 |
| ·TTD 系统概况 | 第7-8页 |
| ·TTD 系统基本原理 | 第8-10页 |
| ·TTD 系统实现方案 | 第10页 |
| ·提高TTD 系统延时测量精度的意义 | 第10-11页 |
| ·低相干光干涉法延时测量 | 第11-20页 |
| ·延时测量的几种方法 | 第11-15页 |
| ·低相干光干涉法延时测量原理 | 第15-17页 |
| ·低相干光延时测量研究现状 | 第17-20页 |
| ·本论文主要工作 | 第20-23页 |
| 第2章 误差传递过程分析 | 第23-35页 |
| ·采样不完整对延时测量的影响 | 第23-28页 |
| ·干涉图样数据长度的确定 | 第23-25页 |
| ·采样不完整对延时精度的影响 | 第25-28页 |
| ·强度噪声与相位误差之间的关系分析 | 第28-31页 |
| ·傅立叶变换过程中的误差传递分析[33] | 第28-29页 |
| ·强度噪声和相位误差之间关系仿真计算 | 第29-31页 |
| ·相位误差与延时误差之间的关系 | 第31-34页 |
| ·小结 | 第34-35页 |
| 第3章 实验中存在的各种误差 | 第35-53页 |
| ·各种强度噪声 | 第35-40页 |
| ·各种噪声强度 | 第35-37页 |
| ·信号强度与信噪比 | 第37-39页 |
| ·强度噪声对延时测量的影响 | 第39-40页 |
| ·刻度校准对延时测量的影响 | 第40-46页 |
| ·刻度校准的意义 | 第40-42页 |
| ·刻度校准误差的引入 | 第42-43页 |
| ·刻度校准误差对延时误差的影响 | 第43-46页 |
| ·参考光光强不稳对延时测量的影响 | 第46-48页 |
| ·参考光光强不稳的引入 | 第46-47页 |
| ·参考光光强不稳对延时测量结果的影响 | 第47-48页 |
| ·温度等环境因素对延时误差的影响 | 第48-52页 |
| ·光子晶体光纤的温度特性 | 第49页 |
| ·实际测量数据 | 第49-52页 |
| ·小结 | 第52-53页 |
| 第4章 低相干光干涉延时测量实验研究 | 第53-65页 |
| ·实验所用各项仪器的参数 | 第53-54页 |
| ·延时测量中的若干关键问题 | 第54-58页 |
| ·移动平台的选择 | 第54-56页 |
| ·空间光路的调节 | 第56-58页 |
| ·测试流程及其结果 | 第58-64页 |
| ·光子晶体光纤相对延时测量结果 | 第59-61页 |
| ·单模光纤相对延时测量结果 | 第61-64页 |
| ·PCF 与SMF 延时测量对比 | 第64页 |
| ·小结 | 第64-65页 |
| 第5章 结论 | 第65-67页 |
| 参考文献 | 第67-70页 |
| 致谢 | 第70-71页 |
| 个人简历、在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第71页 |
