欠掺Bi2Sr2CaCu2O8+δ超导体的本征电子隧道谱
| 中文摘要 | 第1-5页 |
| 英文摘要 | 第5-9页 |
| 1 引言 | 第9-25页 |
| ·超导电性的发现 | 第9-11页 |
| ·高温氧化物超导体 | 第11-13页 |
| ·单电子隧道效应和约瑟夫森隧道效应 | 第13-19页 |
| ·单电子隧道效应 | 第13-16页 |
| ·约瑟夫森隧道效应 | 第16-19页 |
| ·高温超导约瑟夫森结 | 第19-23页 |
| ·高温超导约瑟夫森隧道结 | 第19页 |
| ·Bi-2212 超导体的单电子隧道谱研究 | 第19-21页 |
| ·Bi-2212 本征隧道结和本征隧道谱 | 第21-23页 |
| ·本论文研究的主要内容和意义 | 第23-25页 |
| 2 Bi-2212 本征结的制备 | 第25-39页 |
| ·表面本征约瑟夫森结制备的工艺流程 | 第25-27页 |
| ·Bi-2212 单晶的制备 | 第27-28页 |
| ·Bi-2212 本征结制备实验的具体操作过程 | 第28-34页 |
| ·样品制备实验操作步骤及关键参数 | 第28-32页 |
| ·本征约瑟夫森结制备中的关键步骤及关键问题 | 第32-34页 |
| ·离子束刻蚀 | 第34-39页 |
| 3 Bi-2212 隧道谱的测量 | 第39-53页 |
| ·低温环境的获得和测试杆温度控制 | 第39-41页 |
| ·R-T 特性的测量及原理 | 第41-43页 |
| ·I-V 特性的测量及原理 | 第43-47页 |
| ·I-V 交流扫描的测量 | 第44-45页 |
| ·I-V 直流扫描的测量 | 第45-47页 |
| ·自热问题的解决 | 第47-53页 |
| ·降低IJJ 中的自热效应 | 第47-48页 |
| ·脉冲测量法 | 第48-53页 |
| 4 欠掺 Bi-2212 超导体本征隧道谱及分析 | 第53-67页 |
| ·欠掺Bi-2212 本征结的R-T 特性 | 第54-57页 |
| ·欠掺Bi-2212 本征结的I-V 特性 | 第57-64页 |
| ·欠掺杂Bi-2212 隧道谱结果的拟合 | 第64-67页 |
| 5 结论与展望 | 第67-69页 |
| 致谢 | 第69-71页 |
| 参考文献 | 第71-75页 |
| 附录 | 第75页 |
| A. 钼舟的尺寸设计图 | 第75页 |
| B. 作者在攻读硕士学位期间发表的论文目录 | 第75页 |
| C. 作者在攻读硕士学位期间参加的科研项目 | 第75页 |
