| 摘要 | 第5-6页 |
| abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第11-23页 |
| 1.1 引言 | 第11页 |
| 1.2 电容-压敏材料概述 | 第11-16页 |
| 1.2.1 电容器材料简述 | 第11-13页 |
| 1.2.2 压敏电阻材料简述 | 第13-15页 |
| 1.2.3 电容-压敏原理 | 第15页 |
| 1.2.4 电容-压敏材料的发展 | 第15-16页 |
| 1.3 CaCu_3Ti_4O_(12)材料简介以及研究现状 | 第16-20页 |
| 1.3.1 CaCu_3Ti_4O_(12)的晶体结构 | 第16-17页 |
| 1.3.2 CaCu_3Ti_4O_(12)的巨介电性 | 第17-18页 |
| 1.3.3 CaCu_3Ti_4O_(12)的压敏特性 | 第18页 |
| 1.3.4 CaCu_3Ti_4O_(12)的国内外研究现状 | 第18-20页 |
| 1.4 梯度薄膜理论简介 | 第20-21页 |
| 1.5 本论文研究的目的、主要内容 | 第21-23页 |
| 1.5.1 本论文研究的目的 | 第21-22页 |
| 1.5.2 本论文研究的主要内容 | 第22-23页 |
| 第二章 CaCu_3Ti_4O_(12)薄膜的制备与电性能 | 第23-35页 |
| 2.1 引言 | 第23页 |
| 2.2 实验内容与方法 | 第23-26页 |
| 2.2.1 实验所需原料 | 第23页 |
| 2.2.2 实验所用仪器设备 | 第23-24页 |
| 2.2.3 CaCu_3Ti_4O_(12)前驱体溶胶的制备 | 第24-25页 |
| 2.2.4 单晶Si基底的清洗 | 第25页 |
| 2.2.5 薄膜的制备 | 第25页 |
| 2.2.6 薄膜的测试表征 | 第25-26页 |
| 2.3 CaCu_3Ti_4O_(12)薄膜烧结温度的确定 | 第26-30页 |
| 2.4 CaCu_3Ti_4O_(12)薄膜的介电性能 | 第30-32页 |
| 2.5 CaCu_3Ti_4O_(12)薄膜的压敏性能 | 第32-34页 |
| 2.6 本章小结 | 第34-35页 |
| 第三章 A'位Y掺杂以及梯度掺杂CaCu_3Ti_4O_(12)薄膜的研究 | 第35-51页 |
| 3.1 引言 | 第35页 |
| 3.2 实验内容与方法 | 第35-36页 |
| 3.2.1 实验所需原料 | 第35-36页 |
| 3.2.2 Ca_(1-3/2x)Y_xCu_3Ti_4O_(12)前驱体溶胶的制备 | 第36页 |
| 3.3 A'位Y掺杂CaCu_3Ti_4O_(12)薄膜的显微结构以及电性能研究 | 第36-46页 |
| 3.3.1 Ca_(1-3/2x)Y_xCu_3Ti_4O_(12)薄膜的物相分析 | 第36-37页 |
| 3.3.2 Ca_(1-3/2x)Y_xCu_3Ti_4O_(12)薄膜的显微形貌分析 | 第37-39页 |
| 3.3.3 Ca_(1-3/2x)Y_xCu_3Ti_4O_(12)薄膜的介电频谱分析 | 第39-42页 |
| 3.3.4 Ca_(1-3/2x)Y_xCu_3Ti_4O_(12)薄膜的介电温谱分析 | 第42-43页 |
| 3.3.5 Ca_(1-3/2x)Y_xCu_3Ti_4O_(12)薄膜的压敏特性分析 | 第43-46页 |
| 3.4 A'位Y梯度掺杂CaCu_3Ti_4O_(12)薄膜的显微结构以及电性能研究 | 第46-49页 |
| 3.4.1 Y梯度掺杂CaCu_3Ti_4O_(12)薄膜的物相分析 | 第46页 |
| 3.4.2 Y梯度掺杂CaCu_3Ti_4O_(12)薄膜的显微形貌分析 | 第46-47页 |
| 3.4.3 Y梯度掺杂CaCu_3Ti_4O_(12)薄膜的介电性能研究 | 第47-48页 |
| 3.4.4 Y梯度掺杂CaCu_3Ti_4O_(12)薄膜的压敏性能研究 | 第48-49页 |
| 3.5 本章小结 | 第49-51页 |
| 第四章 A"位Mg掺杂以及梯度掺杂CaCu_3Ti_4O_(12)薄膜的研究 | 第51-67页 |
| 4.1 引言 | 第51页 |
| 4.2 实验内容与方法 | 第51-52页 |
| 4.2.1 实验所需原料 | 第51-52页 |
| 4.2.2 CaCu_(3-x)Mg_xTi_4O_(12)前驱体溶胶的制备 | 第52页 |
| 4.3 A"位Mg掺杂CaCu_3Ti_4O_(12)薄膜的显微结构以及电性能研究 | 第52-61页 |
| 4.3.1 CaCu_(3-x)Mg_xTi_4O_(12)薄膜的物相分析 | 第52-53页 |
| 4.3.2 CaCu_(3-x)Mg_xTi_4O_(12)薄膜的显微形貌分析 | 第53-55页 |
| 4.3.3 CaCu_(3-x)Mg_xTi_4O_(12)薄膜的介电频谱分析 | 第55-58页 |
| 4.3.4 CaCu_(3-x)Mg_xTi_4O_(12)薄膜的介电温谱分析 | 第58-59页 |
| 4.3.5 CaCu_(3-x)Mg_xTi_4O_(12)薄膜的压敏特性分析 | 第59-61页 |
| 4.4 A"位Mg梯度掺杂CaCu_3Ti_4O_(12)薄膜的显微结构以及电性能研究 | 第61-65页 |
| 4.4.1 Mg梯度掺杂CaCu_3Ti_4O_(12)薄膜的物相分析 | 第61-62页 |
| 4.4.2 Mg梯度掺杂CaCu_3Ti_4O_(12)薄膜的显微形貌分析 | 第62-63页 |
| 4.4.3 Mg梯度掺杂CaCu_3Ti_4O_(12)薄膜的介电性能研究 | 第63-64页 |
| 4.4.4 Mg梯度掺杂CaCu_3Ti_4O_(12)薄膜的压敏性能研究 | 第64-65页 |
| 4.5 本章小结 | 第65-67页 |
| 第五章 B位Zr掺杂以及梯度掺杂CaCu_3Ti_4O_(12)薄膜的研究 | 第67-83页 |
| 5.1 引言 | 第67页 |
| 5.2 实验内容与方法 | 第67-68页 |
| 5.2.1 实验所需原料 | 第67-68页 |
| 5.2.2 CaCu_3Ti_(4-x)Zr_xO_(12)前驱体溶胶的制备 | 第68页 |
| 5.3 B位Zr掺杂CaCu_3Ti_4O_(12)薄膜的显微结构以及电性能研究 | 第68-78页 |
| 5.3.1 CaCu_3Ti_(4-x)Zr_xO_(12)薄膜的物相分析 | 第68-69页 |
| 5.3.2 CaCu_3Ti_(4-x)Zr_xO_(12)薄膜的显微形貌分析 | 第69-72页 |
| 5.3.3 CaCu_3Ti_(4-x)Zr_xO_(12)薄膜的介电频谱分析 | 第72-75页 |
| 5.3.4 CaCu_3Ti_(4-x)Zr_xO_(12)薄膜的介电温谱分析 | 第75-76页 |
| 5.3.5 CaCu_3Ti_(4-x)Zr_xO_(12)薄膜的压敏特性分析 | 第76-78页 |
| 5.4 B位Zr梯度掺杂CaCu_3Ti_4O_(12)薄膜的显微结构以及电性能研究 | 第78-82页 |
| 5.4.1 Zr梯度掺杂CaCu_3Ti_4O_(12)薄膜的物相分析 | 第78页 |
| 5.4.2 Zr梯度掺杂CaCu_3Ti_4O_(12)薄膜的显微形貌分析 | 第78-80页 |
| 5.4.3 Zr梯度掺杂CaCu_3Ti_4O_(12)薄膜的介电性能研究 | 第80-81页 |
| 5.4.4 Zr梯度掺杂CaCu_3Ti_4O_(12)薄膜的压敏性能研究 | 第81-82页 |
| 5.5 本章小结 | 第82-83页 |
| 第六章 结论与展望 | 第83-85页 |
| 6.1 结论 | 第83-84页 |
| 6.2 展望 | 第84-85页 |
| 参考文献 | 第85-91页 |
| 致谢 | 第91-92页 |
| 攻读硕士期间科研成果 | 第92页 |
