微纳CT系统探测器特性研究
| 中文摘要 | 第3-4页 |
| 英文摘要 | 第4-5页 |
| 1 绪论 | 第9-13页 |
| 1.1 课题背景 | 第9页 |
| 1.2 课题研究现状 | 第9-11页 |
| 1.3 课题研究内容及意义 | 第11页 |
| 1.4 论文结构安排 | 第11-13页 |
| 2 微纳CT系统探测器 | 第13-23页 |
| 2.1 微纳CT系统简介 | 第13-14页 |
| 2.1.1 微纳CT系统原理及特点 | 第13页 |
| 2.1.2 微纳CT系统关键技术 | 第13-14页 |
| 2.2 平板探测器的种类及特点 | 第14-17页 |
| 2.2.1 非晶硅平板探测器 | 第14-15页 |
| 2.2.2 CMOS平板探测器 | 第15页 |
| 2.2.3 CCD平板探测器 | 第15-16页 |
| 2.2.4 EMCCD平板探测器 | 第16-17页 |
| 2.3 闪烁体光纤耦合CCD探测器 | 第17-21页 |
| 2.3.1 探测器结构 | 第17-19页 |
| 2.3.2 探测器工作原理 | 第19页 |
| 2.3.3 探测器主要性能指标 | 第19-21页 |
| 2.3.4 影响探测器性能指标的因素 | 第21页 |
| 2.4 本章小结 | 第21-23页 |
| 3 闪烁体光纤耦合CCD探测器特性分析 | 第23-51页 |
| 3.1 闪烁体 | 第23-35页 |
| 3.1.1 微纳CT系统常用闪烁体 | 第24页 |
| 3.1.2 CsI闪烁屏 | 第24-25页 |
| 3.1.3 闪烁屏荧光透过率分析 | 第25-30页 |
| 3.1.4 闪烁屏X射线转换因子分析 | 第30-32页 |
| 3.1.5 闪烁屏参数设计 | 第32-35页 |
| 3.2 光纤 | 第35-41页 |
| 3.2.1 光纤概述 | 第35-36页 |
| 3.2.2 光纤物理特性分析 | 第36-38页 |
| 3.2.3 光纤耦合设计 | 第38-41页 |
| 3.3 面阵CCD | 第41-49页 |
| 3.3.1 面阵CCD原理 | 第41-42页 |
| 3.3.2 面阵CCD分类及特性 | 第42-45页 |
| 3.3.3 面阵CCD型号选择 | 第45页 |
| 3.3.4 KAF-8300 CCD特性 | 第45-49页 |
| 3.4 本章小结 | 第49-51页 |
| 4 KAF-8300 CCD驱动系统设计 | 第51-65页 |
| 4.1 KAF-8300 CCD驱动分析 | 第51-53页 |
| 4.1.1 KAF-8300 CCD驱动原理 | 第51-52页 |
| 4.1.2 KAF-8300 CCD驱动设计现状 | 第52-53页 |
| 4.2 KAF-8300 的驱动需求 | 第53-55页 |
| 4.2.1 KAF-8300 的驱动时序分析 | 第53-54页 |
| 4.2.2 KAF-8300 的功率驱动分析 | 第54-55页 |
| 4.3 KAF-8300 驱动系统设计 | 第55-64页 |
| 4.3.1 驱动系统总体设计 | 第55-56页 |
| 4.3.2 水平转移驱动和复位驱动设计 | 第56-59页 |
| 4.3.3 垂直转移驱动设计 | 第59-60页 |
| 4.3.4 电源模块设计 | 第60-61页 |
| 4.3.5 偏置电压设计 | 第61-63页 |
| 4.3.6 输出放大模块设计 | 第63-64页 |
| 4.4 KAF-8300 驱动时序设计 | 第64页 |
| 4.5 本章小结 | 第64-65页 |
| 5 面阵CCD驱动系统测试结果分析 | 第65-75页 |
| 5.1 程序调试 | 第65-66页 |
| 5.2 硬件调试 | 第66-68页 |
| 5.3 性能分析 | 第68-74页 |
| 5.3.1 垂直转移驱动性能分析 | 第68-69页 |
| 5.3.2 水平转移及复位驱动性能分析 | 第69-71页 |
| 5.3.3 CCD输出信号测试及分析 | 第71-74页 |
| 5.4 本章小结 | 第74-75页 |
| 6 总结与展望 | 第75-77页 |
| 6.1 论文总结 | 第75页 |
| 6.2 课题展望 | 第75-77页 |
| 致谢 | 第77-79页 |
| 参考文献 | 第79-83页 |
| 附录 | 第83页 |
| A. 作者在攻读硕士学位期间受理专利目录 | 第83页 |
| B. 作者在攻读硕士学位期间发表论文目录 | 第83页 |
