低硅铝比X型分子筛的制备及其二次晶化研究
| 摘要 | 第5-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 第1章 绪论 | 第11-25页 |
| 1.1 沸石分子筛概述 | 第11-19页 |
| 1.1.1 沸石分子筛的发展 | 第11-12页 |
| 1.1.2 沸石分子筛的结构 | 第12-15页 |
| 1.1.3 沸石分子筛的应用 | 第15页 |
| 1.1.4 沸石分子筛的合成进展 | 第15-19页 |
| 1.2 低硅铝比X型分子筛概述 | 第19-23页 |
| 1.2.1 低硅铝比X型分子筛的结构 | 第19-20页 |
| 1.2.2 低硅铝比X型分子筛的合成方法 | 第20-21页 |
| 1.2.3 低硅铝比X型分子筛合成常用原料 | 第21-22页 |
| 1.2.4 低硅铝比X型分子筛的应用现状 | 第22-23页 |
| 1.3 本论文的选题意义和研究内容 | 第23-25页 |
| 第2章 实验与测试表征 | 第25-30页 |
| 2.1 实验试剂与仪器 | 第25页 |
| 2.2 实验表征与分析方法 | 第25-30页 |
| 2.2.1 X-射线粉末衍射 | 第26页 |
| 2.2.2 傅里叶变换红外光谱分析 | 第26页 |
| 2.2.3 扫描电子显微镜分析 | 第26页 |
| 2.2.4 比表面积的测定 | 第26-27页 |
| 2.2.5 化学组分分析 | 第27-29页 |
| 2.2.6 水静态饱和吸附量的测定 | 第29-30页 |
| 第3章 低硅铝比X型分子筛的合成 | 第30-45页 |
| 3.1 前言 | 第30-31页 |
| 3.2 实验部分 | 第31-32页 |
| 3.2.1 实验试剂与仪器 | 第31页 |
| 3.2.2 实验表征方法 | 第31页 |
| 3.2.3 实验方法 | 第31-32页 |
| 3.3 结果与讨论 | 第32-36页 |
| 3.3.1 LSX分子筛XRD表征 | 第32-33页 |
| 3.3.2 形貌分析 | 第33-34页 |
| 3.3.3 LSX分子筛的比表面积分析 | 第34-35页 |
| 3.3.4 LSX分子筛的红外光谱分析 | 第35-36页 |
| 3.4 低硅铝比X型分子筛合成过程中的影响因素 | 第36-43页 |
| 3.4.1 硅铝比对合成的影响 | 第36页 |
| 3.4.2 体系碱度对合成的影响 | 第36-38页 |
| 3.4.3 老化温度及时间对合成的影响 | 第38-41页 |
| 3.4.4 晶化温度及时间对合成的影响 | 第41-43页 |
| 3.5 本章小结 | 第43-45页 |
| 第4章 低硅铝比X型分子筛二次晶化研究 | 第45-51页 |
| 4.1 前言 | 第45页 |
| 4.2 实验部分 | 第45-46页 |
| 4.2.1 实验试剂与仪器 | 第45-46页 |
| 4.2.2 实验表征方法 | 第46页 |
| 4.2.3 实验方法 | 第46页 |
| 4.3 结果与讨论 | 第46-50页 |
| 4.3.1 水热产物的XRD分析 | 第46-48页 |
| 4.3.2 样品的SEM和红外光谱表征 | 第48-50页 |
| 4.4 本章小结 | 第50-51页 |
| 结论 | 第51-52页 |
| 参考文献 | 第52-60页 |
| 附录A 攻读学位期间所发表的学术论文目录 | 第60-61页 |
| 致谢 | 第61页 |
