| 摘要 | 第10-11页 |
| ABSTRACT | 第11-12页 |
| 第一章 绪论 | 第13-18页 |
| 1.1 引言 | 第13-14页 |
| 1.2 国内/外的研究现状及发展动态 | 第14-17页 |
| 1.3 本文主要研究内容与章节编排 | 第17-18页 |
| 第二章 LDO稳压器的结构原理与EFT脉冲特性分析 | 第18-32页 |
| 2.1 LDO稳压器通用电路结构研究 | 第18-26页 |
| 2.1.1 LDO稳压器的基本原理 | 第19-23页 |
| 2.1.2 LDO电路关键指标及设计要点 | 第23-26页 |
| 2.2 EFT脉冲群干扰信号特性 | 第26-31页 |
| 2.2.1 EFT脉冲群产生机理 | 第26-27页 |
| 2.2.2 EFT脉冲波形特点 | 第27-28页 |
| 2.2.3 EFT脉冲对电路的危害 | 第28-31页 |
| 2.3 本章小结 | 第31-32页 |
| 第三章 LDO稳压器的EFT敏感度测试方法研究 | 第32-54页 |
| 3.1 EFT敏感度测试方法 | 第32-39页 |
| 3.1.1 系统级EFT敏感度测试方法 | 第32-36页 |
| 3.1.2 IC级EFT敏感度测试方法 | 第36-39页 |
| 3.2 LDO稳压器EFT敏感度测试 | 第39-45页 |
| 3.2.1 受测LDO稳压器电路分析 | 第39-40页 |
| 3.2.2 测试电路与脉冲注入模型 | 第40-42页 |
| 3.2.3 测试适配板 | 第42-43页 |
| 3.2.4 测试平台与测试流程 | 第43-45页 |
| 3.3 测试结果与分析 | 第45-52页 |
| 3.3.1 稳压器敏感度测试结果 | 第45-48页 |
| 3.3.2 脉冲耦合路径与电路失效分析 | 第48-52页 |
| 3.4 本章小结 | 第52-54页 |
| 第四章 LDO稳压器的EFT敏感度建模 | 第54-71页 |
| 4.1 阻抗测试与结果分析 | 第54-57页 |
| 4.1.1 阻抗测试校准 | 第54-55页 |
| 4.1.2 测试平台与测试流程 | 第55-57页 |
| 4.2 分立器件建模与芯片参数提取 | 第57-65页 |
| 4.2.1 脉冲注入探头模型 | 第57-59页 |
| 4.2.2 电源去耦网络 | 第59-62页 |
| 4.2.3 芯片无源网络测试 | 第62-63页 |
| 4.2.4 仿真单元——B_element | 第63-65页 |
| 4.3 敏感度行为级模型仿真 | 第65-70页 |
| 4.3.1 稳压器简单分压式电路模型 | 第65-67页 |
| 4.3.2 稳压器非线性行为级模型 | 第67-70页 |
| 4.4 本章小结 | 第70-71页 |
| 第五章 总结与展望 | 第71-73页 |
| 5.1 总结 | 第71-72页 |
| 5.2 展望 | 第72-73页 |
| 致谢 | 第73-74页 |
| 参考文献 | 第74-79页 |
| 作者在学期间取得的学术成果 | 第79页 |