存储器故障与可靠性试验研究
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第一章 绪论 | 第10-18页 |
| 1.1 课题背景 | 第10-11页 |
| 1.2 国内外发展情况 | 第11-13页 |
| 1.3 集成电路测试系统发展概况 | 第13-15页 |
| 1.4 课题研究意义 | 第15-16页 |
| 1.5 论文结构 | 第16-18页 |
| 第二章 半导体存储器测试原理 | 第18-34页 |
| 2.1 存储器的结构和工作原理 | 第18-26页 |
| 2.1.1 只读型存储器 | 第18-21页 |
| 2.1.2 随机存储器 | 第21-26页 |
| 2.2 存储器的失效机理和故障模式 | 第26-28页 |
| 2.2.1 失效机理 | 第26页 |
| 2.2.2 故障模式 | 第26-28页 |
| 2.3 存储器的故障模型及验证方法 | 第28-33页 |
| 2.3.1 存储器主要故障类型 | 第29页 |
| 2.3.2 存储器故障模型分析 | 第29-33页 |
| 2.4 本章小结 | 第33-34页 |
| 第三章 存储器测试方法研究 | 第34-43页 |
| 3.1 图形算法在存储器测试中的作用 | 第34-35页 |
| 3.2 测试图形特征分析 | 第35-38页 |
| 3.2.1 地址和数据 | 第35页 |
| 3.2.2 背景图形和前景图形 | 第35-36页 |
| 3.2.3 主检单元T和干扰单元D | 第36-37页 |
| 3.2.4 地址序列 | 第37-38页 |
| 3.3 测试图形分析 | 第38-42页 |
| 3.3.1 全“0”和全“1”图形 | 第38-39页 |
| 3.3.2 奇偶图形 | 第39-40页 |
| 3.3.3 齐步图形 | 第40-42页 |
| 3.4 本章小结 | 第42-43页 |
| 第四章 存储器测试环境与测试器件 | 第43-51页 |
| 4.1 测试平台 | 第43-47页 |
| 4.2 测试目标器件 | 第47-50页 |
| 4.2.1 存储器概况 | 第47-49页 |
| 4.2.2 NAND存储单元 | 第49-50页 |
| 4.3 本章小结 | 第50-51页 |
| 第五章 存储器测试实现及其可靠性分析 | 第51-62页 |
| 5.1 存储器测试实现 | 第51-57页 |
| 5.1.1 存储器参数测试 | 第52-53页 |
| 5.1.2 DC参数测试 | 第53-54页 |
| 5.1.3 AC参数测试 | 第54-57页 |
| 5.2 存储器可靠性分析 | 第57-61页 |
| 5.2.1 可靠性理论分析 | 第57-58页 |
| 5.2.2 测试结果分析 | 第58-61页 |
| 5.3 本章小结 | 第61-62页 |
| 结论与展望 | 第62-63页 |
| 参考文献 | 第63-66页 |
| 致谢 | 第66页 |
