MWPC探测器读出电子学系统的设计与实现
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第13-24页 |
| 1.1 中国散裂中子源 | 第13-15页 |
| 1.2 中国散裂中子源谱仪 | 第15-18页 |
| 1.2.1 谱仪总体规划 | 第15-16页 |
| 1.2.2 通用粉末衍射仪 | 第16页 |
| 1.2.3 小角散射仪 | 第16-17页 |
| 1.2.4 多功能反射仪 | 第17-18页 |
| 1.3 MWPC探测器及其读出电子学 | 第18-23页 |
| 1.3.1 MWPC探测器简介 | 第18-20页 |
| 1.3.2 MWPC读出电子学 | 第20-23页 |
| 1.4 论文主要内容及结构安排 | 第23-24页 |
| 第2章 MWPC读出电子学方案研究 | 第24-42页 |
| 2.1 阳极丝电荷测量 | 第24-35页 |
| 2.1.1 前置放大器 | 第24-28页 |
| 2.1.2 滤波成形 | 第28-33页 |
| 2.1.3 波形数字化及电荷量获取 | 第33-35页 |
| 2.2 读出丝位置及时间标定 | 第35-41页 |
| 2.2.1 位置测量 | 第35-41页 |
| 2.2.2 时间标定 | 第41页 |
| 2.3 本章小结 | 第41-42页 |
| 第3章 MWPC读出电子学系统设计 | 第42-60页 |
| 3.1 读出板硬件设计 | 第42-51页 |
| 3.1.1 电源处理 | 第43-44页 |
| 3.1.2 FPGA及其配置 | 第44-45页 |
| 3.1.3 外部接口 | 第45-46页 |
| 3.1.4 电荷测量 | 第46-49页 |
| 3.1.5 位置测量及时间标定 | 第49-50页 |
| 3.1.6 阈值及刻度信号产生 | 第50-51页 |
| 3.2 FPGA固件设计 | 第51-54页 |
| 3.2.1 信号寻峰 | 第52页 |
| 3.2.2 被击中位置记录 | 第52-53页 |
| 3.2.3 被击中时间标定 | 第53页 |
| 3.2.4 数据打包 | 第53页 |
| 3.2.5 其它模块 | 第53-54页 |
| 3.3 PC端应用程序设计 | 第54-59页 |
| 3.3.1 USB读写控制 | 第54-56页 |
| 3.3.2 板上工作模式配置 | 第56页 |
| 3.3.3 数据获取及分析 | 第56-59页 |
| 3.4 本章小结 | 第59-60页 |
| 第4章 MWPC读出电子学系统测试 | 第60-67页 |
| 4.1 实验室测试 | 第61-65页 |
| 4.1.1 数据封装测试 | 第61-62页 |
| 4.1.2 波形重建测试 | 第62-63页 |
| 4.1.3 电荷分辨 ()测试 | 第63-64页 |
| 4.1.4 电荷积分非线性 (INL)测试 | 第64-65页 |
| 4.2 探测器联调 | 第65-66页 |
| 4.2.1 基线、噪声测试 | 第65-66页 |
| 4.2.2 X射线过阈信号分布测试 | 第66页 |
| 4.3 本章小结 | 第66-67页 |
| 总结与展望 | 第67-68页 |
| 参考文献 | 第68-72页 |
| 致谢 | 第72-73页 |
| 附录A 攻读学位期间所发表的学术论文目录 | 第73-74页 |
| 附录B MWPC读出板电路原理图 | 第74-79页 |
| 附录C MWPC读出板PCB版图 | 第79-80页 |
| 附录D PC端应用程序部分程序框图 | 第80-81页 |
| 附录E FPGA固件程序部分代码 | 第81-94页 |
