| 摘要 | 第5-7页 |
| ABSTRACT | 第7-8页 |
| 第一章 绪论 | 第11-29页 |
| 1.1 研究背景和意义 | 第11-12页 |
| 1.2 熔盐堆简介 | 第12-15页 |
| 1.3 离子束辐照模拟中子辐照 | 第15-29页 |
| 1.3.1 中子辐照损伤的特点和面临的问题 | 第16-20页 |
| 1.3.2 离子束模拟中子辐照的理论说明 | 第20-21页 |
| 1.3.3 离子束与中子辐照实验结果的等效性 | 第21-25页 |
| 1.3.4 离子束模拟中子辐照的ASTM规范 | 第25-29页 |
| 第二章 研究内容及研究现状 | 第29-45页 |
| 2.1 研究内容 | 第29-30页 |
| 2.2 国内外研究现状 | 第30-45页 |
| 2.2.1 SiC微结构的损伤和缺陷的演化 | 第30-35页 |
| 2.2.2 辐照损坏对SiC力学性能影响的研究现状 | 第35-38页 |
| 2.2.3 辐照损坏对SiC抗熔盐腐蚀性能影响的研究现状 | 第38-45页 |
| 第三章 SiC材料性质，实验装置与方法介绍 | 第45-59页 |
| 3.1 SiC材料性质与样品的制备 | 第45-48页 |
| 3.1.1 SiC材料的结构与性质 | 第45-47页 |
| 3.1.2 样品制备 | 第47-48页 |
| 3.2 辐照平台简介 | 第48-53页 |
| 3.2.1 4MV静电加速器辐照靶室 | 第48-49页 |
| 3.2.2 100kV实验室型电磁同位素分离和离子注入装置 | 第49-51页 |
| 3.2.3 中科院近代物理所 320 kV高电荷态离子综合实验平台辐照装置 | 第51-53页 |
| 3.3 分析测试方法简介 | 第53-59页 |
| 3.3.1 拉曼散射光谱 | 第54页 |
| 3.3.2 透射电子显微镜（TEM） | 第54-55页 |
| 3.3.3 原子力显微镜（AFM） | 第55-56页 |
| 3.3.4 扫描电镜（SEM） | 第56页 |
| 3.3.5 纳米压痕仪 | 第56-57页 |
| 3.3.6 X射线光电子能谱（XPS） | 第57-59页 |
| 第四章 SiC微结构辐照损伤的演化规律 | 第59-73页 |
| 4.1 实验部分 | 第59-62页 |
| 4.1.1 制备样品 | 第59页 |
| 4.1.2 辐照实验 | 第59-61页 |
| 4.1.3 表征实验 | 第61-62页 |
| 4.2 利用拉曼光谱来研究SiC微结构辐照损伤的演化规律 | 第62-69页 |
| 4.3 利用TEM研究SiC辐照损伤过程及其非晶化机制 | 第69-71页 |
| 4.4 总结 | 第71-73页 |
| 第五章 辐照损伤对SiC力学性能的影响 | 第73-81页 |
| 5.1 实验部分 | 第73-75页 |
| 5.1.1 辐照实验 | 第73-74页 |
| 5.1.2 纳米压痕实验 | 第74-75页 |
| 5.2 辐照损伤对SiC表面纳米硬度影响及其机理的研究 | 第75-79页 |
| 5.3 辐照损伤对SiC弹性模量影响的研究 | 第79-80页 |
| 5.4 总结 | 第80-81页 |
| 第六章 辐照损伤对SiC抗熔盐腐蚀性能的影响 | 第81-109页 |
| 6.1 实验部分 | 第81-86页 |
| 6.1.1 辐照实验 | 第82-84页 |
| 6.1.2 腐蚀实验 | 第84-85页 |
| 6.1.3 测试实验 | 第85-86页 |
| 6.2 高温 70 keV Si离子辐照对SiC熔盐腐蚀性能的影响 | 第86-93页 |
| 6.3 常温 1 MeV Si离子辐照对SiC熔盐腐蚀性能的影响及其机理 | 第93-103页 |
| 6.4 不同辐照条件对SiC熔盐腐蚀性能的对比 | 第103-106页 |
| 6.5 总结 | 第106-109页 |
| 第七章 结论与展望 | 第109-112页 |
| 7.1 总结 | 第109-111页 |
| 7.2 展望 | 第111-112页 |
| 参考文献 | 第112-119页 |
| 发表文章 | 第119页 |
| 基金 | 第119-120页 |
| 致谢 | 第120页 |
