双流体限流断路器的设计及其影响因素分析
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第10-22页 |
| 1.1 研究背景 | 第10页 |
| 1.2 传统限流开断技术 | 第10-11页 |
| 1.3 新型限流开断技术 | 第11-13页 |
| 1.4 液态金属限流开断技术 | 第13-17页 |
| 1.5 双流体限流断路技术 | 第17-20页 |
| 1.6 本文的研究内容 | 第20-22页 |
| 第2章 装置设计及研究方法 | 第22-38页 |
| 2.1 双流体限流断路器设计 | 第22-25页 |
| 2.1.1 设计依据 | 第22-24页 |
| 2.1.2 装置原型 | 第24-25页 |
| 2.2 研究方法 | 第25-37页 |
| 2.2.1 实验方法 | 第25-27页 |
| 2.2.2 数值模拟方法 | 第27-37页 |
| 2.3 本章小结 | 第37-38页 |
| 第3章 双流体限流断路器温升和开断实验分析 | 第38-46页 |
| 3.1 前言 | 第38页 |
| 3.2 温升实验 | 第38-40页 |
| 3.2.1 大电流下限流断路器内的温升 | 第38-39页 |
| 3.2.2 反复使用对导电流体电阻率的影响 | 第39-40页 |
| 3.3 开断实验 | 第40-44页 |
| 3.3.1 小电流开断实验 | 第40-43页 |
| 3.3.2 大电流开断实验 | 第43-44页 |
| 3.4 本章小结 | 第44-46页 |
| 第4章 双流体限流断路器影响因素的数值模拟 | 第46-68页 |
| 4.1 前言 | 第46页 |
| 4.2 双流体限流断路器内多物理场分布 | 第46-55页 |
| 4.2.1 温度场分布 | 第46-49页 |
| 4.2.2 电磁场分布 | 第49-53页 |
| 4.2.3 流场分布 | 第53-55页 |
| 4.3 双流体限流断路器影响参数的数值模拟 | 第55-66页 |
| 4.3.1 工作电流的影响 | 第55-59页 |
| 4.3.2 导电流体高度的影响 | 第59-62页 |
| 4.3.3 磁性流体高度的影响 | 第62-63页 |
| 4.3.4 磁场大小的影响 | 第63-64页 |
| 4.3.5 流体是否充满腔体的影响 | 第64-66页 |
| 4.4 本章小结 | 第66-68页 |
| 第5章 结论与展望 | 第68-70页 |
| 5.1 结论 | 第68-69页 |
| 5.2 展望 | 第69-70页 |
| 参考文献 | 第70-76页 |
| 致谢 | 第76-78页 |
| 个人简历 | 第78页 |
