摘要 | 第5-6页 |
Abstract | 第6-7页 |
第一章 绪论 | 第12-20页 |
1.1 研究背景及意义 | 第12页 |
1.2 静电雾化的国内外研究现状 | 第12-15页 |
1.3 荷电液滴变形破碎的研究现状 | 第15-16页 |
1.4 纳米流体的制备 | 第16-18页 |
1.4.1 一步法 | 第17页 |
1.4.2 两步法 | 第17-18页 |
1.5 本文的主要研究内容 | 第18-20页 |
第二章 静电雾化基础理论 | 第20-38页 |
2.1 液滴荷电机理 | 第20-23页 |
2.1.1 电晕荷电 | 第20-22页 |
2.1.2 感应荷电 | 第22-23页 |
2.1.3 接触荷电 | 第23页 |
2.2 荷电单液滴破碎机理 | 第23-35页 |
2.2.1 静止荷电液滴破碎机理 | 第23-25页 |
2.2.2 气动作用下荷电液滴破碎机理 | 第25-35页 |
2.3 静电雾化基本模式及特征 | 第35-37页 |
2.3.1 滴状模式 | 第35页 |
2.3.2 纺锤模式 | 第35-36页 |
2.3.3 锥射流模式 | 第36页 |
2.3.4 多股射流模式 | 第36-37页 |
2.4 本章小结 | 第37-38页 |
第三章 纳米流体静电雾化模式转变的实验研究 | 第38-53页 |
3.1 实验装置及方法 | 第38-41页 |
3.1.1 高速数码摄像机 | 第38-39页 |
3.1.2 显微变焦镜头 | 第39页 |
3.1.3 微流注射泵 | 第39-40页 |
3.1.4 可视化实验系统 | 第40页 |
3.1.5 纳米流体的制备 | 第40-41页 |
3.2 纳米流体的基本物性 | 第41-44页 |
3.2.1 纳米流体粘度与纳米颗粒质量分数的关系 | 第41-42页 |
3.2.2 纳米流体表面张力与纳米颗粒质量分数的关系 | 第42-43页 |
3.2.3 纳米流体电导率与纳米颗粒质量分数的关系 | 第43-44页 |
3.3 影响纳米流体静电雾化模式转变的因素 | 第44-52页 |
3.3.1 质量分数对静电雾化模式转变的影响 | 第46-47页 |
3.3.2 电场强度对静电雾化模式转变的影响 | 第47-49页 |
3.3.3 流量对静电雾化模式转变的影响 | 第49-50页 |
3.3.4 毛细管端面开槽数对静电雾化模式转变的影响 | 第50-52页 |
3.4 本章小结 | 第52-53页 |
第四章 纳米流体静电雾化沉积特性的实验研究 | 第53-61页 |
4.1 实验装置及方法 | 第53页 |
4.2 液滴粒径随电压的变化 | 第53-58页 |
4.2.1 滴状模式下液滴粒径随电压的变化 | 第54-56页 |
4.2.2 锥射流模式下液滴粒径随电压的变化 | 第56-57页 |
4.2.3 多股射流模式下液滴粒径随电压的变化 | 第57-58页 |
4.3 流量对纳米流体静电雾化液滴粒径的影响 | 第58-60页 |
4.3.1 流量对锥射流模式下液滴粒径的影响 | 第59页 |
4.3.2 流量对多股射流模式下液滴粒径的影响 | 第59-60页 |
4.4 本章小结 | 第60-61页 |
第五章 纳米流体气动作用下的变形破碎特性研究 | 第61-70页 |
5.1 实验装置及方法 | 第61-63页 |
5.2 纳米流体袋状破碎电流体动力学特性研究 | 第63-67页 |
5.2.1 纳米颗粒对荷电液滴袋的生长的影响 | 第64-66页 |
5.2.2 纳米颗粒对荷电液滴袋的破碎的影响 | 第66-67页 |
5.3 纳米颗粒对We以及We~*的影响 | 第67-69页 |
5.4 本章小结 | 第69-70页 |
第六章 结论及进一步工作展望 | 第70-72页 |
6.1 全文工作总结 | 第70-71页 |
6.2 展望 | 第71-72页 |
致谢 | 第72-73页 |
参考文献 | 第73-78页 |
硕士学位期间的科研情况 | 第78页 |