基于缺陷成团效应的众核处理器核级冗余拓扑重构算法研究
| 摘要 | 第4-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第11-20页 |
| 1.1 课题研究背景 | 第11-15页 |
| 1.1.1 处理器的发展趋势 | 第11-12页 |
| 1.1.2 多核及众核处理器的发展状况 | 第12-13页 |
| 1.1.3 众核处理器发展面临的困境 | 第13-15页 |
| 1.2 众核处理器硬件容错技术研究现状 | 第15-17页 |
| 1.2.1 核级容错的技术优势 | 第15-16页 |
| 1.2.2 核级冗余拓扑重构算法研究现状 | 第16-17页 |
| 1.3 论文研究动机及意义 | 第17页 |
| 1.4 课题研究的内容 | 第17-19页 |
| 1.5 论文的组织结构 | 第19页 |
| 1.6 本章小结 | 第19-20页 |
| 第二章 众核处理器核级冗余拓扑重构技术发展研究 | 第20-32页 |
| 2.1 众核处理器目标平台 | 第20-24页 |
| 2.1.1 众核处理器结构 | 第20页 |
| 2.1.2 片上网络的发展及其常见拓扑结构 | 第20-23页 |
| 2.1.3 2D-Mesh结构优点 | 第23页 |
| 2.1.4 众核处理器目标平台的选择 | 第23-24页 |
| 2.2 核级冗余拓扑重构思想 | 第24-26页 |
| 2.2.1 N+M核级冗余思想 | 第24-25页 |
| 2.2.2 拓扑重构思想 | 第25-26页 |
| 2.3 现有拓扑重构算法分析 | 第26-30页 |
| 2.3.1 移动替换配置算法 | 第26-27页 |
| 2.3.2 行波列借算法 | 第27-28页 |
| 2.3.3 双向搜索的行波列借算法 | 第28-29页 |
| 2.3.4 模拟退火算法 | 第29-30页 |
| 2.4 修复率与时间性能参数 | 第30-31页 |
| 2.5 本章小结 | 第31-32页 |
| 第三章 成团效应下众核处理器失效核分布建模方法 | 第32-41页 |
| 3.1 随机生成算法 | 第32-33页 |
| 3.2 缺陷的成团效应 | 第33-34页 |
| 3.3 成团效应下失效核分配算法 | 第34-36页 |
| 3.4 实验仿真与分析 | 第36-40页 |
| 3.4.1 验证成团特性 | 第36-38页 |
| 3.4.2 修复率分析 | 第38-39页 |
| 3.4.3 时间性能参数分析 | 第39-40页 |
| 3.5 本章小结 | 第40-41页 |
| 第四章 可靠性为目标的众核处理器拓扑重构算法 | 第41-53页 |
| 4.1 以可靠性为目标进行拓扑重构的必要性 | 第41-42页 |
| 4.2 可靠性模型建立 | 第42-43页 |
| 4.2.1 网络可靠性模型 | 第42-43页 |
| 4.2.2 基于NoC的众核处理器可靠性模型 | 第43页 |
| 4.3 以可靠性为优化目标的拓扑重构算法 | 第43-46页 |
| 4.3.1 优化问题建模 | 第43-44页 |
| 4.3.2 使用匕首抽样的蒙特卡洛可靠性仿真方法 | 第44-45页 |
| 4.3.3 模拟退火拓扑重构算法 | 第45-46页 |
| 4.4 实验仿真与分析 | 第46-52页 |
| 4.4.1 仿真模型建立 | 第46-47页 |
| 4.4.2 只考虑链路可靠性 | 第47-48页 |
| 4.4.3 同时考虑链路和处理器核心可靠性 | 第48-49页 |
| 4.4.4 同时考虑处理器核心可靠性和成团因子 | 第49-52页 |
| 4.5 本章小结 | 第52-53页 |
| 第五章 基于可靠性和时间性能的双目标拓扑重构算法 | 第53-62页 |
| 5.1 多目标优化问题概述 | 第53-55页 |
| 5.1.1 多目标优化基础 | 第53-54页 |
| 5.1.2 多目标优化问题的定义与特点 | 第54页 |
| 5.1.3 多目标优化问题的解决方法 | 第54-55页 |
| 5.2 可靠性-时间性能双优化问题分析与算法设计 | 第55-60页 |
| 5.2.1 双目标优化问题建模 | 第55-56页 |
| 5.2.2 双目标优化分析 | 第56-57页 |
| 5.2.3 双目标优化算法设计与实现 | 第57-60页 |
| 5.3 实验仿真与分析 | 第60-61页 |
| 5.4 本章小结 | 第61-62页 |
| 第六章 总结与展望 | 第62-64页 |
| 6.1 工作总结 | 第62-63页 |
| 6.2 研究展望 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-69页 |
| 攻读硕士学位期间发表的学术论文 | 第69-70页 |
| 致谢 | 第70页 |
