TFT-LCD制造过程中周边Mura的消除
| 中文摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 一、绪论 | 第8-14页 |
| 1.1 国内外研究现状 | 第8页 |
| 1.2 TFT-LCD 技术 | 第8-9页 |
| 1.3 TFT-LCD 的产品品质 | 第9-11页 |
| 1.4 TFT-LCD 主流显示材料技术 | 第11-12页 |
| 1.5 TFT-LCD 主流显示模式 | 第12页 |
| 1.6 本文研究内容及意义 | 第12-14页 |
| 二、TFT‐LCD 结构及工艺技术 | 第14-37页 |
| 2.1 TFT-LCD 的结构 | 第14-29页 |
| 2.2 TFT-LCD 制造工艺 | 第29-37页 |
| 2.2.1 阵列工艺(Array) | 第31-33页 |
| 2.2.2 成盒工艺(Cell) | 第33-35页 |
| 2.2.3 模块工艺(LCM) | 第35-37页 |
| 三、周边 Mura 现象的调查与分析 | 第37-45页 |
| 3.1 周边 Mura 的产生机理 | 第37-38页 |
| 3.1.1 漏光 | 第38页 |
| 3.2 周边 Mura 的现象及分析 | 第38-44页 |
| 3.2.1 间隙球高度测量 | 第39-40页 |
| 3.2.2 RGB 色阻的膜厚对比 | 第40-41页 |
| 3.2.3 液晶盒厚的测量对比 | 第41-43页 |
| 3.2.4 框胶涂布精度检查 | 第43-44页 |
| 3.2.5 中央精度机量测 | 第44页 |
| 3.2.6 显微镜观察 | 第44页 |
| 3.3 结论 | 第44-45页 |
| 四、周边 Mura 的改善 | 第45-50页 |
| 4.1 玻璃厚度变更实验 | 第45页 |
| 4.2 框胶内垫衬物高度的变更实验 | 第45-46页 |
| 4.3 使用新型外涂层(OC)实验 | 第46页 |
| 4.4 液晶量变更实验 | 第46-47页 |
| 4.5 修正组立精度实验 | 第47-49页 |
| 4.6 结果与讨论 | 第49-50页 |
| 五、结论 | 第50-51页 |
| 参考文献 | 第51-52页 |
| 致谢 | 第52-53页 |
