| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第10-22页 |
| 1.1 概述 | 第10页 |
| 1.2 薄片激光器原理及发展 | 第10-12页 |
| 1.3 光束质量主动控制技术 | 第12-15页 |
| 1.3.1 腔外光束质量主动控制技术 | 第13-14页 |
| 1.3.2 腔内光束质量主动控制技术 | 第14-15页 |
| 1.4 光学系统内波前像差的Zemike多项式描述 | 第15-17页 |
| 1.5 自适应光学国内外发展状况 | 第17-19页 |
| 1.6 本文研究内容及论文结构 | 第19-22页 |
| 第二章 非稳腔薄片激光器输出光束特性的仿真分析 | 第22-36页 |
| 2.1 非稳腔基本原理及光学特性 | 第22-29页 |
| 2.1.1 光学谐振腔基本理论 | 第22-23页 |
| 2.1.2 虚共焦非稳腔光学特性 | 第23-24页 |
| 2.1.3 光束质量评价参数 | 第24-26页 |
| 2.1.4 光束传输的基本理论 | 第26-27页 |
| 2.1.5 傅里叶光学分析 | 第27-28页 |
| 2.1.6 光束的透镜变换 | 第28-29页 |
| 2.2 非稳腔本征模式求解 | 第29-35页 |
| 2.2.1 非稳腔仿真计算模型 | 第29-31页 |
| 2.2.2 热加载时非稳腔仿真模型 | 第31-35页 |
| 2.3 小结 | 第35-36页 |
| 第三章 非稳腔内像差特性及其对输出光束影响分析 | 第36-50页 |
| 3.1 薄片增益介质热效应 | 第36页 |
| 3.2 薄片热畸变像差探测 | 第36-43页 |
| 3.2.1 哈特曼传感器工作原理 | 第37页 |
| 3.2.2 薄片增益介质热畸变测量实验 | 第37-38页 |
| 3.2.3 薄片增益介质倾斜像差测量 | 第38-41页 |
| 3.2.4 薄片增益介质高阶像差测量 | 第41-43页 |
| 3.3 谐振腔内像差对输出光束光学特性的影响 | 第43-48页 |
| 3.3.1 倾斜像差对输出光束的影响 | 第43-44页 |
| 3.3.2 离焦像差对输出光束的影响 | 第44-46页 |
| 3.3.3 高阶像差对输出光束的影响 | 第46-48页 |
| 3.4 小结 | 第48-50页 |
| 第四章 非稳腔内低阶像差校正研究 | 第50-60页 |
| 4.1 非稳腔内倾斜像差校正 | 第50-55页 |
| 4.1.1 基于往返探测校正腔内倾斜原理 | 第51-52页 |
| 4.1.2 腔内倾斜校正方法的仿真分析 | 第52-55页 |
| 4.2 非稳腔腔内低阶像差校正实验研究 | 第55-58页 |
| 4.2.1 非稳腔内低阶像差校正实验方案 | 第55-56页 |
| 4.2.2 非稳腔内低阶像差校正实验研究 | 第56-58页 |
| 4.3 小结 | 第58-60页 |
| 第五章 全文总结与展望 | 第60-62页 |
| 5.1 全文总结 | 第60-61页 |
| 5.2 展望 | 第61-62页 |
| 致谢 | 第62-64页 |
| 参考文献 | 第64-68页 |
| 作者介绍 | 第68页 |