| 中文摘要 | 第4-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第12-30页 |
| 1.1 纳米通道技术研究进展 | 第12-22页 |
| 1.1.1 生物性纳米通道 | 第13-17页 |
| 1.1.1.1 α-溶血素蛋白通道 | 第13-15页 |
| 1.1.1.2 细胞膜离子通道 | 第15-16页 |
| 1.1.1.3 自组装跨膜离子通道 | 第16-17页 |
| 1.1.2 材料性纳米通道 | 第17-22页 |
| 1.1.2.1 材料纳米通道的分类 | 第18-20页 |
| 1.1.2.2 材料纳米通道的应用 | 第20-22页 |
| 1.2 对映体分离的研究现状 | 第22-28页 |
| 1.2.1 手性物质的拆分方法 | 第22-25页 |
| 1.2.2 手性物质膜分离的方法 | 第25-28页 |
| 1.2.2.1 液膜分离 | 第25-26页 |
| 1.2.2.2 固膜分离 | 第26-28页 |
| 1.3 本文构思 | 第28-30页 |
| 第二章 聚多巴胺纳米通道的制备与表征 | 第30-43页 |
| 2.1 前言 | 第30-31页 |
| 2.2 实验部分 | 第31-33页 |
| 2.2.1 主要仪器与试剂 | 第31页 |
| 2.2.2 实验方法 | 第31-32页 |
| 2.2.2.1 聚PDA纳米通道的制备 | 第31页 |
| 2.2.2.2 PDA纳米管的制备 | 第31-32页 |
| 2.2.2.3 聚多巴胺纳米通道电阻测试装置 | 第32页 |
| 2.2.3 多巴胺自聚合原理 | 第32-33页 |
| 2.3 结果与讨论 | 第33-42页 |
| 2.3.1 PDA纳米通道膜的形貌表征 | 第33-34页 |
| 2.3.2 PDA膜的孔径与沉积时间和多巴胺浓度的关系 | 第34-35页 |
| 2.3.3 PDA膜的XPS能谱和红外光谱分析 | 第35-37页 |
| 2.3.4 PDA纳米通道的性质研究 | 第37-42页 |
| 2.3.4.1 纳米通道电阻理论 | 第37-38页 |
| 2.3.4.2 离子强度对聚PDA纳米通道的电阻影响 | 第38-40页 |
| 2.3.4.3 聚PDA纳米通道的zeta电位的研究 | 第40页 |
| 2.3.4.4 PDA纳米通道等电点的研究 | 第40-42页 |
| 2.3.4.5 孔径大小对PDA纳米通道过膜电阻的影响 | 第42页 |
| 2.4 结论 | 第42-43页 |
| 第三章 壳聚糖修饰的PDA纳米通道对D/L-苯丙氨酸的手性拆分 | 第43-57页 |
| 3.1 前言 | 第43-45页 |
| 3.2 实验部分 | 第45-46页 |
| 3.2.1 主要实验试剂与实验仪器 | 第45页 |
| 3.2.2 实验原理 | 第45-46页 |
| 3.2.3 实验方法 | 第46页 |
| 3.2.3.1 PDA纳米通道膜的制备 | 第46页 |
| 3.2.3.2 PDA纳米通道膜的修饰 | 第46页 |
| 3.2.3.3 纳米通道分离传感装置及分离原理 | 第46页 |
| 3.3 结果与讨论 | 第46-56页 |
| 3.3.1 CS修饰前后膜的电化学表征 | 第46-47页 |
| 3.3.2 CS/PDA纳米通道等电点的研究 | 第47-48页 |
| 3.3.3 D/L-Phe在PDA膜和CS/PDA膜中的迁移 | 第48-49页 |
| 3.3.4 PDA膜孔径对D/L-Phe对映体拆分的影响 | 第49-50页 |
| 3.3.5 D/L-Phe浓度变化对分离效果影响 | 第50-51页 |
| 3.3.6 pH变化对D/L-Phe分离度的影响 | 第51-52页 |
| 3.3.7 离子强度对D/L-Phe分离度的影响 | 第52-53页 |
| 3.3.8 最优实验条件下D/L-Phe的分离情况 | 第53-54页 |
| 3.3.9 CS/PDA纳米通道对不同氨基酸对映体的分离情况 | 第54-55页 |
| 3.3.10 膜的重复利用的考察 | 第55-56页 |
| 3.4 结论 | 第56-57页 |
| 第四章L-cys修饰的PDA纳米通道对D/L-α-苯乙胺的识别与分离 | 第57-69页 |
| 4.1 前言 | 第57-58页 |
| 4.2 实验部分 | 第58-59页 |
| 4.2.1 实验试剂与仪器 | 第58页 |
| 4.2.2 实验原理 | 第58-59页 |
| 4.2.3 实验方法 | 第59页 |
| 4.2.3.1 PDA纳米通道的修饰 | 第59页 |
| 4.2.3.2 纳米通道传感装置 | 第59页 |
| 4.3 结果与讨论 | 第59-67页 |
| 4.3.1 PDA膜和修饰膜的表征 | 第59-60页 |
| 4.3.2 L-cys功能化的PDA膜等电点的研究 | 第60-62页 |
| 4.3.3 α-PEA对映单体在修饰L-cys前后纳米通道中的识别 | 第62-64页 |
| 4.3.4 D/L-α-PEA浓度对对映体识别的影响 | 第64页 |
| 4.3.5 孔径对D-/L-α-PEA对映体识别的影响 | 第64-65页 |
| 4.3.6 离子强度对D/L-α-PEA对映体识别的影响 | 第65-67页 |
| 4.3.7 最佳实验条件下D/L-PEA对映体的分离情况 | 第67页 |
| 4.4 结论 | 第67-69页 |
| 第五章SiO_2 纳米通道的制备及表征 | 第69-77页 |
| 5.1 前言 | 第69页 |
| 5.2 实验部分 | 第69-70页 |
| 5.2.1 主要实验试剂与实验仪器 | 第69页 |
| 5.2.2 实验方法 | 第69-70页 |
| 5.2.2.1 SiO_2 纳米通道的制备 | 第69-70页 |
| 5.2.2.2 PDA/Ag/SiO_2 纳米管的制备 | 第70页 |
| 5.2.2.3 SiO_2 纳米通道电渗测定实验装置 | 第70页 |
| 5.3 结果与讨论 | 第70-76页 |
| 5.3.1 SiO_2 纳米通道的制备原理 | 第70-71页 |
| 5.3.2 SiO_2 纳米通道的形貌特征 | 第71-72页 |
| 5.3.3 SiO_2 纳米通道的XPS能谱分析 | 第72-73页 |
| 5.3.4 沉积时间对纳米通道孔径的影响 | 第73-74页 |
| 5.3.5 SiO_2 纳米通道的Zeta电位测定 | 第74-75页 |
| 5.3.6 SiO_2 纳米通道的电渗流测定 | 第75-76页 |
| 5.4 结论 | 第76-77页 |
| 参考文献 | 第77-91页 |
| 致谢 | 第91-92页 |
| 硕士阶段主要研究成果 | 第92页 |
