摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5-6页 |
第1章 绪论 | 第9-21页 |
1.1 前言 | 第9-10页 |
1.1.1 柔性石墨烯导电导热纸的研究背景 | 第9页 |
1.1.2 石墨化碳包裹铜纳米电缆的研究背景 | 第9-10页 |
1.2 柔性石墨烯导电导热纸的研究现状 | 第10-16页 |
1.2.1 热管理材料的研究现状 | 第10-13页 |
1.2.2 石墨烯纸的研究现状 | 第13-16页 |
1.3 石墨化碳包裹铜纳米线的研究现状 | 第16-18页 |
1.4 研究内容和意义 | 第18-21页 |
1.4.1 柔性石墨烯导电导热纸的研究内容和意义 | 第18-19页 |
1.4.2 石墨化碳包裹铜纳米线的纳米电缆的研究内容和意义 | 第19-21页 |
第2章 实验方法和实验原理 | 第21-33页 |
2.1 实验材料 | 第21-23页 |
2.1.1 氧化石墨烯、石墨烯使用的试剂及仪器 | 第21页 |
2.1.2 石墨烯纸使用试剂及仪器 | 第21-22页 |
2.1.3 制备石墨碳包裹铜纳米线的纳米电缆结构所需材料 | 第22-23页 |
2.2 实验方案 | 第23-26页 |
2.2.1 氧化石墨烯、石墨烯的制备及表征 | 第23-24页 |
2.2.2 石墨烯纸的制备及表征 | 第24页 |
2.2.3 石墨烯包裹铜纳米线的纳米电缆结构的制备及表征 | 第24页 |
2.2.4 结构与性能测试 | 第24-26页 |
2.3 实验设备及其原理 | 第26-33页 |
2.3.1 X射线衍射仪 (X-Ray Diffraction, XRD) | 第26页 |
2.3.2 扫描电子显微镜 (Scanning Electron Microscope, SEM) | 第26-27页 |
2.3.3 透射电子显微镜 (Transmission Electron Microscope, TEM) | 第27页 |
2.3.4 扫描隧道显微镜-透射电子显微镜探针系统(STM–TEM NanofactoryInstruments) | 第27-28页 |
2.3.5 霍尔测试仪 (HL5500PC) | 第28-31页 |
2.3.6 差示扫描量热仪 (Differential Scanning Calorimetry, DSC) | 第31页 |
2.3.7 激光闪光仪 (Vibrating Sample Magnetometer, VSM) | 第31-33页 |
第3章 氧化石墨烯、石墨烯的研究 | 第33-41页 |
3.1 引言 | 第33页 |
3.2 氧化石墨烯、石墨烯的制备 | 第33-34页 |
3.3 氧化石墨烯、石墨烯的表征 | 第34-40页 |
3.3.1 氧化石墨烯、石墨烯的物相分析 | 第34-35页 |
3.3.2 氧化石墨烯和石墨烯的缺陷分析 | 第35-37页 |
3.3.3 氧化石墨烯溶液的Zeta电位分析 | 第37-38页 |
3.3.4 石墨烯的形貌、结构分析 | 第38-39页 |
3.3.5 石墨烯的厚度分析 | 第39-40页 |
3.4 本章小结 | 第40-41页 |
第4章 柔性石墨烯导电导热纸的研究 | 第41-49页 |
4.1 引言 | 第41页 |
4.2 柔性石墨烯导电导热纸的制备 | 第41-42页 |
4.3 氧化石墨烯纸的表征 | 第42-44页 |
4.3.1 氧化石墨烯纸的物相分析 | 第42页 |
4.3.2 氧化石墨烯纸、石墨烯纸的表面、横截面形貌结构分析 | 第42-44页 |
4.3.3 石墨烯纸的Raman光谱分析 | 第44页 |
4.4 石墨烯纸的导电性分析 | 第44-46页 |
4.5 石墨烯纸的导热性分析 | 第46-47页 |
4.6 本章小结 | 第47-49页 |
第5章 碳包铜纳米电缆结构及其导电性能的研究 | 第49-57页 |
5.1 引言 | 第49页 |
5.2 碳包铜纳米电缆的制备 | 第49-50页 |
5.3 Cu@C NC和Cu@G NC纳米电缆的结构分析 | 第50-53页 |
5.3.1 Cu@C NC和Cu@G NC的物相、形貌、结构分析 | 第50页 |
5.3.2 Cu@C NC和Cu@G NC的形貌分析 | 第50-51页 |
5.3.3 Cu@C NC和Cu@G NC的形貌、结构分析 | 第51-53页 |
5.4 Cu@C NC和Cu@G NC的导电性能 | 第53-55页 |
5.5 本章小结 | 第55-57页 |
结论 | 第57-59页 |
参考文献 | 第59-67页 |
攻读硕士学位期间发表的学术论文 | 第67-69页 |
致谢 | 第69页 |