| 摘要 | 第4-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第9-13页 |
| 1.1 课题研究的背景及意义 | 第9-10页 |
| 1.2 国内外研究进展 | 第10-11页 |
| 1.3 本文主要内容 | 第11-13页 |
| 第2章 GaAs基半导体激光器加速寿命实验 | 第13-33页 |
| 2.1 加速寿命试验 | 第13-16页 |
| 2.1.1 寿命分布函数 | 第13-15页 |
| 2.1.2 加速寿命模型 | 第15-16页 |
| 2.2 半导体激光器工作原理 | 第16-17页 |
| 2.3 半导体激光器加速寿命实验方案 | 第17-19页 |
| 2.4 加速寿命数据处理 | 第19-31页 |
| 2.4.1 结温测量 | 第19-21页 |
| 2.4.2 寿命分布曲线 | 第21-30页 |
| 2.4.3 加速寿命曲线 | 第30-31页 |
| 2.5 本章小结 | 第31-33页 |
| 第3章 GaAs基半导体激光器腔面膜的失效分析 | 第33-43页 |
| 3.1 利用聚焦离子束（FIB）制备样品 | 第33-35页 |
| 3.2 测试仪器介绍 | 第35-37页 |
| 3.2.1 高分辨透射电子显微镜（HRTEM） | 第35-36页 |
| 3.2.2 能量色散X射线能谱仪（EDS） | 第36-37页 |
| 3.3 结果与分析 | 第37-42页 |
| 3.4 本章小结 | 第42-43页 |
| 第4章 GaAs基半导体激光器温升和反向漏电流研究 | 第43-55页 |
| 4.1 电学法测量纵向热量传导 | 第43-46页 |
| 4.1.1 测量方法介绍 | 第43-45页 |
| 4.1.2 测量结果与分析 | 第45-46页 |
| 4.2 红外法测量腔面温升 | 第46-50页 |
| 4.2.1 测量方法介绍 | 第46-49页 |
| 4.2.2 测量结果与分析 | 第49-50页 |
| 4.3 EMMI测量反向漏电情况 | 第50-53页 |
| 4.3.1 测量方法介绍 | 第50-51页 |
| 4.3.2 测量结果与分析 | 第51-53页 |
| 4.4 本章小结 | 第53-55页 |
| 结论 | 第55-57页 |
| 参考文献 | 第57-61页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第61-63页 |
| 致谢 | 第63页 |