摘要 | 第4-6页 |
Abstract | 第6-7页 |
第1章 绪论 | 第11-26页 |
1.1 课题研究背景 | 第11-12页 |
1.2 高温固态电池(SOCs)简介 | 第12-16页 |
1.2.1 SOCs的组成及基本原理 | 第12-14页 |
1.2.2 SOCs的热力学分析 | 第14-15页 |
1.2.3 SOCs的极化损失 | 第15-16页 |
1.3 SOCs的关键材料 | 第16-20页 |
1.3.1 SOCs空气电极材料 | 第16-17页 |
1.3.2 SOCs电解质材料 | 第17-18页 |
1.3.3 SOCs燃料电极材料 | 第18-20页 |
1.4 SOCs的研究现状 | 第20-23页 |
1.4.1 SOEC研究现状 | 第20-22页 |
1.4.2 SOFC研究现状 | 第22-23页 |
1.5 课题研究目的及内容 | 第23-26页 |
1.5.1 课题研究目的 | 第23-24页 |
1.5.2 课题主要研究内容 | 第24-26页 |
第2章 实验材料及方法 | 第26-31页 |
2.1 实验仪器及药品 | 第26-27页 |
2.1.1 实验使用药品及耗材 | 第26页 |
2.1.2 实验使用仪器 | 第26-27页 |
2.2 SOCs的制备 | 第27-29页 |
2.2.1 流延法制备YSZ电解质 | 第27页 |
2.2.2 丝网印刷法制备SOCs的燃料电极和空气电极 | 第27-28页 |
2.2.3 浸渍液的制备及燃烧法制备Ce_xT_(1-x)O_(2-δ) 粉体 | 第28页 |
2.2.4 浸渍法改性SOCs燃料电极 | 第28页 |
2.2.5 SOCs的组装 | 第28-29页 |
2.3 材料的结构形貌表征 | 第29页 |
2.3.1 扫描电子显微镜 | 第29页 |
2.3.2 X射线衍射仪 | 第29页 |
2.3.3 X射线能谱仪 | 第29页 |
2.4 材料的电化学表征 | 第29-31页 |
2.4.1 SOFC的电化学性能测试 | 第29-30页 |
2.4.2 SOEC电解性能测试 | 第30页 |
2.4.3 SOEC长期稳定性测试 | 第30-31页 |
第3章 过渡金属掺杂CeO_2改性Ni/YSZ电极对H_2的电化学氧化行为研究 | 第31-42页 |
3.1 前言 | 第31页 |
3.2 制备Ce_xT_(1-x)O_(2-δ) 粉体及其相结构表征 | 第31-33页 |
3.2.1 Ce_xT_(1-x)O_(2-δ) 粉体的制备 | 第31页 |
3.2.2 Ce_xT_(1-x)O_(2-δ) 粉体的物理表征 | 第31-33页 |
3.3 不同过渡金属掺杂CeO_2浸渍对Ni/YSZ电极的催化性能影响 | 第33-40页 |
3.3.1 未浸渍处理的Ni/YSZ|YSZ|LSM/YSZ电池性能表征 | 第33-36页 |
3.3.2 Ce-T/Ni/YSZ|YSZ|LSM/YSZ电池放电性能表征 | 第36-37页 |
3.3.3 Ce-T/Ni/YSZ|YSZ|LSM/YSZ电池阻抗表征 | 第37-39页 |
3.3.4 Ce-T/Ni/YSZ|YSZ|LSM/YSZ电池微观形貌表征 | 第39-40页 |
3.4 本章小结 | 第40-42页 |
第4章 Ni/YSZ电极改性前后电解CO_2的电化学行为及其微观机制研究 | 第42-58页 |
4.1 前言 | 第42页 |
4.2 浸渍Ce-Ni改性后SOEC电解CO_2电化学性能表征 | 第42-49页 |
4.2.1 浸渍Ce-Ni改性后与未浸渍SOEC Ⅰ-Ⅴ对比 | 第42-44页 |
4.2.2 浸渍Ce-Ni改性后与未浸渍SOEC阻抗对比 | 第44-45页 |
4.2.3 浸渍Ce-Ni改性后SOEC微观形貌表征 | 第45-48页 |
4.2.4 浸渍Ce-Ni改性后SOEC恒定电压下短期稳定性表征 | 第48-49页 |
4.3 不同过渡金属掺杂CeO_2改性SOEC电解CO_2电化学性能对比 | 第49-51页 |
4.3.1 不同过渡金属掺杂CeO_2改性SOEC电解CO_2 Ⅰ-Ⅴ对比 | 第49-50页 |
4.3.2 不同过渡金属掺杂CeO_2改性SOEC电解CO_2阻抗对比 | 第50-51页 |
4.4 浸渍改性处理前后电极积碳现象研究 | 第51-56页 |
4.4.1 Mn掺杂CeO_2SOEC及未处理SOEC长期稳定性研究 | 第51-53页 |
4.4.2 Mn掺杂CeO_2SOEC及未处理SOEC微观形貌表征 | 第53-56页 |
4.5 本章小结 | 第56-58页 |
结论 | 第58-59页 |
参考文献 | 第59-66页 |
攻读硕士学位期间发表的论文及其它成果 | 第66-68页 |
致谢 | 第68页 |