大尺寸平面零件测量方法研究
| 学位论文的主要创新点 | 第3-4页 |
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第一章 绪论 | 第8-14页 |
| 1.1 研究背景和意义 | 第8-9页 |
| 1.2 国内外发展现状 | 第9-11页 |
| 1.3 本文研究内容及章节安排 | 第11-14页 |
| 第二章 大尺寸平面零件测量系统设计 | 第14-20页 |
| 2.1 测量系统结构及基本工作原理 | 第14-15页 |
| 2.2 测量系统硬件选型 | 第15-18页 |
| 2.2.1 光源选型及照明方式 | 第15页 |
| 2.2.2 摄像机及镜头选型 | 第15-17页 |
| 2.2.3 标定板选型 | 第17页 |
| 2.2.4 大尺寸平面零件测量平台 | 第17-18页 |
| 2.3 本章小结 | 第18-20页 |
| 第三章 摄像机标定 | 第20-30页 |
| 3.1 线性成像模型 | 第20-23页 |
| 3.2 非线性成像模型 | 第23-24页 |
| 3.3 标定原理 | 第24-28页 |
| 3.4 测量平面位姿校正 | 第28-29页 |
| 3.5 本章小结 | 第29-30页 |
| 第四章 边缘提取及尺寸测量 | 第30-46页 |
| 4.1 像素级边缘提取 | 第30-33页 |
| 4.2 亚像素边缘提取 | 第33-36页 |
| 4.2.1 亚像素边缘检测算法研究 | 第33-34页 |
| 4.2.2 基于高斯曲面拟合的亚像素边缘检测算法 | 第34-36页 |
| 4.3 上表面边缘恢复 | 第36-42页 |
| 4.3.1 平面零件成像特点 | 第36-37页 |
| 4.3.2 边缘特性分析 | 第37-39页 |
| 4.3.3 上下边缘点区分 | 第39-41页 |
| 4.3.4 上边缘恢复 | 第41-42页 |
| 4.4 尺寸测量 | 第42-44页 |
| 4.4.1 世界坐标求解 | 第42-43页 |
| 4.4.2 坐标转换 | 第43-44页 |
| 4.5 本章小结 | 第44-46页 |
| 第五章 实验结果及分析 | 第46-74页 |
| 5.1 摄像机标定 | 第46-47页 |
| 5.2 上表面边缘恢复 | 第47-59页 |
| 5.2.1 亚像素边缘提取 | 第47-49页 |
| 5.2.2 上下边缘点区分 | 第49-54页 |
| 5.2.3 上边缘恢复 | 第54-59页 |
| 5.3 尺寸测量 | 第59-67页 |
| 5.4 误差分析 | 第67-72页 |
| 5.4.1 边缘恢复误差 | 第68-69页 |
| 5.4.2 坐标转换误差 | 第69-72页 |
| 5.5 本章小结 | 第72-74页 |
| 第六章 总结与展望 | 第74-76页 |
| 6.1 本文总结 | 第74页 |
| 6.2 工作展望 | 第74-76页 |
| 参考文献 | 第76-80页 |
| 发表论文和参加科研情况 | 第80-82页 |
| 致谢 | 第82页 |
