基于知识获取的电子电器寿命分析方法的研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-15页 |
| ·引言 | 第9-10页 |
| ·寿命分析的国内外发展现状 | 第10-12页 |
| ·寿命分析的国外发展现状 | 第11页 |
| ·寿命分析的国内发展现状 | 第11-12页 |
| ·本论文的研究内容 | 第12-15页 |
| 第二章 寿命分析参数的选取 | 第15-21页 |
| ·电子电器的分类 | 第15-16页 |
| ·本文的具体研究对象——继电器 | 第16-19页 |
| ·继电器工作原理 | 第16-17页 |
| ·继电器失效机理 | 第17-19页 |
| ·寿命分析参数的选取 | 第19-20页 |
| ·继电器寿命分析参数的选取 | 第19-20页 |
| ·电子电器寿命分析参数选取的一般方法 | 第20页 |
| ·本章小结 | 第20-21页 |
| 第三章 知识获取的一种有效方法——粗糙集理论 | 第21-33页 |
| ·引言 | 第21-22页 |
| ·粗糙集理论概况 | 第22-24页 |
| ·粗糙集理论的发展 | 第22-23页 |
| ·粗糙集理论的应用研究 | 第23-24页 |
| ·粗糙集理论的基本概念 | 第24-28页 |
| ·信息系统 | 第24-25页 |
| ·不可辨识关系 | 第25-26页 |
| ·上下近似与分类 | 第26-27页 |
| ·决策规则 | 第27页 |
| ·属性约简与核 | 第27-28页 |
| ·区分矩阵与区分函数 | 第28页 |
| ·知识约简与求核 | 第28-31页 |
| ·用属性的约简求核 | 第28-29页 |
| ·用区分函数求核 | 第29页 |
| ·算例分析 | 第29-31页 |
| ·关联规则的支持度 | 第31-32页 |
| ·属性综合权重 | 第31-32页 |
| ·关联规则的支持度 | 第32页 |
| ·本章小结 | 第32-33页 |
| 第四章 电子电器寿命分析的数据预处理 | 第33-45页 |
| ·电子电器寿命分析的数据预处理步骤 | 第33-34页 |
| ·寿命分析数据的初步处理 | 第34-35页 |
| ·原始寿命分析数据的获取 | 第34页 |
| ·寿命分析数据的初步整理 | 第34-35页 |
| ·寿命分析数据离散化 | 第35-44页 |
| ·数据离散化的几种方法 | 第35-38页 |
| ·基于布尔逻辑的寿命分析数据离散化 | 第38-42页 |
| ·寿命分析决策表的生成 | 第42-44页 |
| ·本章总结 | 第44-45页 |
| 第五章 基于知识获取的电子电器寿命预测 | 第45-55页 |
| ·基于知识获取的电子电器寿命预测步骤 | 第45-46页 |
| ·基于知识获取的电子电器寿命预测 | 第46-54页 |
| ·获取产品寿命的最简属性集 | 第47-50页 |
| ·产品寿命最简属性的权重分配 | 第50-51页 |
| ·提取寿命关联规则 | 第51-52页 |
| ·验证寿命关联规则的实用性 | 第52-54页 |
| ·本章小结 | 第54-55页 |
| 第六章 电子电器寿命的灵敏性分析 | 第55-65页 |
| ·电子电器寿命灵敏性分析步骤 | 第55-57页 |
| ·电子电器寿命灵敏性分析过程 | 第57-63页 |
| ·研究与处理寿命试验数据 | 第57页 |
| ·建立寿命灵敏性分析的决策表 | 第57-58页 |
| ·获取寿命灵敏性分析的最简属性集 | 第58-60页 |
| ·最简属性集的权重分配 | 第60-61页 |
| ·提取寿命灵敏性分析的关联规则 | 第61-63页 |
| ·本章小结 | 第63-65页 |
| 参考文献 | 第65-69页 |
| 攻读学位期间所取得的相关科研成果 | 第69-71页 |
| 致谢 | 第71页 |
