| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-25页 |
| ·引言 | 第11-12页 |
| ·光伏组件对光利用率的研究 | 第12-15页 |
| ·盖板玻璃对光利用率的研究 | 第13-14页 |
| ·晶体硅片对太阳光响应特性的研究 | 第14-15页 |
| ·SiO_2减反射薄膜的研究状况 | 第15-19页 |
| ·SiO_2减反射薄膜的制备方法 | 第15-18页 |
| ·SiO_2减反射薄膜的膜系设计 | 第18页 |
| ·SiO_2减反射薄膜的应用与展望 | 第18-19页 |
| ·Eu~(3+)掺杂无机薄膜的研究 | 第19-23页 |
| ·Eu~(3+)的发光机理 | 第20-21页 |
| ·Eu~(3+)的f-f电子跃迁和光谱特性 | 第21-22页 |
| ·影响Eu~(3+)光致发光的因素 | 第22-23页 |
| ·选题与研究内容 | 第23-25页 |
| 第二章 实验与测试 | 第25-35页 |
| ·原料与设备 | 第25-26页 |
| ·实验原料 | 第25-26页 |
| ·实验设备 | 第26页 |
| ·实验内容 | 第26-29页 |
| ·基于商品化SiO_2溶胶的镀膜液制备 | 第26-27页 |
| ·Eu~(3+)掺杂SiO_2溶胶的制备 | 第27-28页 |
| ·Eu~(3+)掺杂SiO_2镀膜液的制备 | 第28页 |
| ·玻璃基底的清洁处理 | 第28页 |
| ·薄膜镀制 | 第28页 |
| ·薄膜热处理 | 第28-29页 |
| ·测试和表征 | 第29-35页 |
| ·紫外-可见分光光度计 | 第29-30页 |
| ·椭偏光谱仪 | 第30页 |
| ·扫描电子显徽镜 | 第30页 |
| ·激光粒度分析仪 | 第30-31页 |
| ·激发和发射光谱 | 第31页 |
| ·透射电子显微镜(TEM)分析 | 第31-32页 |
| ·薄膜机械性能的测试 | 第32页 |
| ·接触角测定仪 | 第32-35页 |
| 第三章 基于商品化SiO_2镀膜液的减反射薄膜的研究 | 第35-51页 |
| ·前言 | 第35-36页 |
| ·SiO_2减反射薄膜的制备与研究 | 第36-44页 |
| ·SiO_2浓度对薄膜透过性的影响 | 第36-40页 |
| ·PVA浓度对薄膜透过性的影响 | 第40-42页 |
| ·热处理温度对薄膜透过性的影响 | 第42-43页 |
| ·溶胶pH对薄膜透过性的影响 | 第43-44页 |
| ·SiO_2镀膜液稳定性的研究 | 第44-45页 |
| ·SiO_2薄膜的物性参数对透过性的研究 | 第45-47页 |
| ·薄膜的厚度对透过性的影响 | 第45页 |
| ·薄膜的折射率对透过性的影响 | 第45-46页 |
| ·薄膜的孔隙率对透过性的影响 | 第46-47页 |
| ·SiO_2薄膜的机械性能研究 | 第47-50页 |
| ·薄膜的粘附性的测试 | 第47-48页 |
| ·薄膜的硬度测试 | 第48-50页 |
| ·本章小结 | 第50-51页 |
| 第四章 Eu~(3+)掺杂SiO_2减反射薄膜的制备与研究 | 第51-67页 |
| ·前言 | 第51页 |
| ·Eu~(3+)掺杂SiO_2溶胶的研究 | 第51-57页 |
| ·醇/水摩尔比对溶胶形成的影响 | 第51-53页 |
| ·Eu~(3+)掺杂SiO_2溶胶的微观结构分析 | 第53-54页 |
| ·Eu~(3+)浓度对粉末发光特性的影响 | 第54-57页 |
| ·Eu~(3+)掺杂SiO_2镀膜液制备薄膜光学性能的研究 | 第57-63页 |
| ·掺杂比例对薄膜光学性能的研究 | 第57-60页 |
| ·掺杂比例对薄膜透过性的影响 | 第57-58页 |
| ·掺杂比例对薄膜荧光光谱的影响 | 第58-60页 |
| ·Eu~(3+)浓度对薄膜光学性能的研究 | 第60-63页 |
| ·Eu~(3+)浓度对薄膜透过性的影响 | 第60-62页 |
| ·Eu~(3+)浓度对薄膜荧光光谱的影响 | 第62-63页 |
| ·Eu~(3+)掺杂SiO_2溶胶的稳定性研究 | 第63页 |
| ·Eu~(3+)掺杂SiO_2薄膜的机械性能 | 第63-64页 |
| ·薄膜接触角的研究 | 第64页 |
| ·小结 | 第64-67页 |
| 第五章 结论 | 第67-69页 |
| 参考文献 | 第69-75页 |
| 致谢 | 第75-77页 |
| 个人简历 | 第77-79页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文与取得的其他研究成果 | 第79页 |
