微波电路测试时嵌入和去嵌入技术研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-11页 |
| ·国内外科技发展动态 | 第7-8页 |
| ·发展趋势与未来展望 | 第8-9页 |
| ·论文主要工作简介 | 第9-11页 |
| 第二章 微波网络分析 | 第11-33页 |
| ·采用等效电压和等效电流定义的网络参数 | 第11-19页 |
| ·等效电压和电流 | 第11-14页 |
| ·阻抗概念 | 第14-16页 |
| ·阻抗和导纳矩阵 | 第16-19页 |
| ·采用输入量与输出量定义的网络参数-转移参数 | 第19-21页 |
| ·采用归一化入射波和反射波定义的网络参数 | 第21-23页 |
| ·散射参数 | 第21-23页 |
| ·传输参数和传输矩阵 | 第23页 |
| ·网络参数之间的相互关系 | 第23-27页 |
| ·阻抗参数与导纳参数的关系 | 第23-24页 |
| ·转移参数与阻抗参数、导纳参数的关系 | 第24页 |
| ·散射参数与阻抗参数、导纳参数的关系 | 第24-25页 |
| ·散射参数与转移参数的关系 | 第25-26页 |
| ·散射参数与传输参数的关系 | 第26-27页 |
| ·散射信号流图 | 第27-33页 |
| ·散射信号流图的建立 | 第27-29页 |
| ·信号流图不接触环法则 | 第29页 |
| ·基于信号流图去嵌 | 第29-33页 |
| 第三章 夹具去嵌之优化法 | 第33-51页 |
| ·Nelder-Mead 单纯形法 | 第34-37页 |
| ·解约束极值的一种直接法——SWIFT 法 | 第37-41页 |
| ·SUMT 法—外点法 | 第37-39页 |
| ·SWIFT 法 | 第39-41页 |
| ·夹具去嵌之 SWIFT 算法 | 第41-43页 |
| ·优化去嵌原理 | 第41-42页 |
| ·SWIFT 算法及其优化原理 | 第42-43页 |
| ·夹具去嵌之 TRL 校准法 | 第43-47页 |
| ·TRL 校准法 | 第43-44页 |
| ·基于 TRL 去嵌 | 第44-47页 |
| ·去嵌之单纯形法与 TRL 法的数据分析及验证 | 第47-51页 |
| ·理论分析 | 第47-49页 |
| ·数据分析 | 第49-51页 |
| 第四章 夹具仿真器算法设计 | 第51-91页 |
| ·端口延伸 | 第52-61页 |
| ·校准面延伸 | 第52-54页 |
| ·理论分析 | 第54-56页 |
| ·端口延伸流程 | 第56-58页 |
| ·端口延伸数据分析 | 第58-61页 |
| ·夹具去嵌之端口延伸 | 第61-67页 |
| ·基于转移矩阵去嵌 | 第61-65页 |
| ·基于传输矩阵去嵌 | 第65-66页 |
| ·去嵌流程数据分析 | 第66-67页 |
| ·阻抗转换 | 第67-74页 |
| ·广义散射参量的基本概念 | 第67-70页 |
| ·双端口网络广义散射参量 | 第70-72页 |
| ·多端口网络广义散射参量 | 第72页 |
| ·端口阻抗转换 | 第72-74页 |
| ·平行耦合线传输线方程解 | 第74-78页 |
| ·平行耦合线混合散射参数 | 第78-82页 |
| ·理论分析 | 第78-79页 |
| ·平衡散射参数之物理含义 | 第79-82页 |
| ·微波巴伦混合散射参数 | 第82-87页 |
| ·微波巴伦散射参数理论分析 | 第82-83页 |
| ·微波巴伦散射参数物理含义 | 第83-85页 |
| ·ADS 仿真实例 | 第85-87页 |
| ·四端口网络到单端-平衡的转换 | 第87-91页 |
| ·单端-平衡四端口理论分析 | 第87-88页 |
| ·单端-平衡四端口网络散射参数物理含义 | 第88-91页 |
| 第五章 结束语 | 第91-93页 |
| 致谢 | 第93-95页 |
| 参考文献 | 第95-97页 |
