| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-24页 |
| ·引言 | 第10页 |
| ·发光与发光材料 | 第10-13页 |
| ·发光与发光材料的分类 | 第11-12页 |
| ·发光材料的发光过程 | 第12-13页 |
| ·稀土发光材料 | 第13-17页 |
| ·稀土元素及光谱特性 | 第13-15页 |
| ·稀土发光材料的优异性能 | 第15页 |
| ·常见的稀土发光材料及其应用 | 第15-17页 |
| ·发光薄膜材料 | 第17-22页 |
| ·发光薄膜材料的优势及应用 | 第17-18页 |
| ·发光薄膜材料的常见制备方法 | 第18-22页 |
| ·溶胶-凝胶法 | 第18-19页 |
| ·喷雾热解法 | 第19页 |
| ·溅射法 | 第19页 |
| ·脉冲激光沉积法 | 第19-20页 |
| ·脉冲激光烧蚀法 | 第20页 |
| ·金属有机物化学汽相沉积法 | 第20-21页 |
| ·蒸镀法 | 第21页 |
| ·自组装法 | 第21页 |
| ·电化学沉积法 | 第21-22页 |
| ·本论文的研究意义、内容及创新点 | 第22-24页 |
| ·论文的研究意义 | 第22-23页 |
| ·论文的主题内容 | 第23页 |
| ·论文的创新点 | 第23-24页 |
| 第二章 实验材料及测试仪器 | 第24-31页 |
| ·实验材料 | 第24页 |
| ·试剂 | 第24页 |
| ·基本实验仪器 | 第24页 |
| ·制膜设备 | 第24-26页 |
| ·电化学沉积池 | 第24-25页 |
| ·退火炉简介 | 第25-26页 |
| ·测试仪器及原理 | 第26-31页 |
| ·光致发光光谱仪（PL） | 第26-27页 |
| ·光谱仪介绍 | 第26-27页 |
| ·原理介绍 | 第27页 |
| ·XRD 测试 | 第27-29页 |
| ·仪器介绍 | 第27-28页 |
| ·XRD 工作原理 | 第28-29页 |
| ·SEM 测试 | 第29-30页 |
| ·仪器简介 | 第29页 |
| ·工作原理 | 第29-30页 |
| ·X 射线能量色散谱（EDS） | 第30-31页 |
| 第三章 Y_3O_3:Eu~(3+)和 Gd_2O_3:Eu~(3+)薄膜的制备及性能研究 | 第31-50页 |
| ·引言 | 第31-32页 |
| ·实验部分 | 第32-33页 |
| ·样品制备过程 | 第32页 |
| ·Y_3O_3:Eu~(3+)和 Gd_2O_3:Eu~(3+)掺杂薄膜形成原理 | 第32-33页 |
| ·相关测试 | 第33-34页 |
| ·结果与讨论 | 第34-48页 |
| ·Y_2O_3:Eu~(3+)荧光薄膜的测试分析 | 第34-41页 |
| ·Y_2O_3:Eu~(3+)荧光薄膜的 XRD 测试分析 | 第34-35页 |
| ·Y_2O_3:Eu~(3+)荧光薄膜的 SEM 形貌分析 | 第35-36页 |
| ·Y_2O_3:Eu~(3+)荧光薄膜的 EDS 测试分析 | 第36-38页 |
| ·Y_2O_3:Eu~(3)荧光薄膜的 PL 测试分析 | 第38-41页 |
| ·Gd_2O_3:Eu~(3+)荧光薄膜的测试分析 | 第41-48页 |
| ·Gd_2O_3:Eu~(3+)荧光薄膜的 XRD 测试分析 | 第41-42页 |
| ·Gd_2O_3:Eu~(3+)荧光薄膜的 SEM 测试分析 | 第42-43页 |
| ·Gd_2O_3:Eu~(3+)荧光薄膜的 EDS 测试分析 | 第43-44页 |
| ·Gd_2O_3:Eu~(3+)荧光薄膜的 PL 测试分析 | 第44-48页 |
| ·本章小结 | 第48-50页 |
| 第四章 Y_2O_3:Tb~(3+)和 Gd_2O_3:Tb~(3+)薄膜制备及性能研究 | 第50-65页 |
| ·引言 | 第50-51页 |
| ·实验部分 | 第51-52页 |
| ·样品制备过程 | 第51页 |
| ·Y_2O_3:Tb~(3+)和 Gd_2O_3:Tb~(3+)掺杂薄膜形成原理 | 第51-52页 |
| ·相关测试 | 第52-53页 |
| ·结果与讨论 | 第53-63页 |
| ·Y_2O_3:Tb~(3+)荧光薄膜的测试分析 | 第53-58页 |
| ·Y_2O_3:Tb~(3+)荧光薄膜的 XRD 测试分析 | 第53-54页 |
| ·Y_2O_3:Tb~(3+)荧光薄膜的 SEM 形貌分析 | 第54页 |
| ·Y_2O_3:Tb~(3+)荧光薄膜的 EDS 测试分析 | 第54-56页 |
| ·Y_2O_3:Tb~(3+)荧光薄膜的 PL 测试分析 | 第56-58页 |
| ·Gd_2O_3:Tb~(3+)荧光薄膜的测试分析 | 第58-63页 |
| ·Gd_2O+3:Tb3荧光薄膜的 XRD 测试分析 | 第58-59页 |
| ·Gd_2O_3:Tb~(3+)荧光薄膜的 SEM 形貌分析 | 第59-60页 |
| ·Gd_2O_3:Tb~(3+)荧光薄膜的 EDS 测试分析 | 第60-61页 |
| ·Gd_2O_3:Tb~(3+)荧光薄膜的 PL 测试分析 | 第61-63页 |
| ·本章小结 | 第63-65页 |
| 第五章 总结与展望 | 第65-67页 |
| 参考文献 | 第67-77页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及申请的专利情况 | 第77-78页 |
| 致谢 | 第78页 |
