支柱瓷绝缘子水平偏振横波超声检测技术研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 目录 | 第7-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-19页 |
| ·课题研究背景及意义 | 第10页 |
| ·瓷绝缘子检测现状 | 第10-16页 |
| ·瓷绝缘子失效机理 | 第11-12页 |
| ·当前检测方法 | 第12-16页 |
| ·水平偏振横波超声检测 | 第16-18页 |
| ·水平偏振横波产生原理 | 第16-17页 |
| ·水平偏振横波应用现状 | 第17页 |
| ·水平偏振横波晶片的研究进展 | 第17-18页 |
| ·论文主要研究内容 | 第18-19页 |
| 第2章 2-2型压电复合晶片 | 第19-37页 |
| ·2-2型压电复合材料的理论基础 | 第19-26页 |
| ·压电复合材料 | 第19-20页 |
| ·2-2型压电复合材料的理论模型研究 | 第20-21页 |
| ·2-2型压电复合材料的振动模态研究 | 第21-22页 |
| ·2-2型压电复合材料性能表征 | 第22-25页 |
| ·2-2型压电复合材料优点 | 第25-26页 |
| ·2-2型压电复合晶片的研制 | 第26-29页 |
| ·2-2型压电复合晶片结构设计 | 第26-27页 |
| ·2-2型压电复合晶片的材料选择 | 第27-28页 |
| ·2-2型压电复合晶片的等效电路 | 第28-29页 |
| ·2-2型压电复合晶片的制作 | 第29-32页 |
| ·压电陶瓷的切割/层叠 | 第30-31页 |
| ·固化过程中样品的固定 | 第31-32页 |
| ·2-2型压电复合晶片电极涂覆 | 第32页 |
| ·2-2型压电复合晶片的测试 | 第32-35页 |
| ·显微照片分析 | 第32-34页 |
| ·测试数据分析 | 第34-35页 |
| ·本章小结 | 第35-37页 |
| 第3章 SH波换能器的研制 | 第37-52页 |
| ·超声波换能器的设计 | 第37-43页 |
| ·换能器结构的基本组成和功能 | 第37-38页 |
| ·换能器主要部件和选材 | 第38-42页 |
| ·电学匹配的设计 | 第42-43页 |
| ·超声波换能器的制作 | 第43-44页 |
| ·SH波换能器制作技术要点 | 第43-44页 |
| ·SH波换能器的测试 | 第44-51页 |
| ·横波直探头的测试 | 第44-45页 |
| ·SH波斜探头的测试 | 第45-51页 |
| ·本章小结 | 第51-52页 |
| 第4章 SH波换能器支柱瓷绝缘子检测应用研究 | 第52-64页 |
| ·检测工艺制定及内容 | 第52-53页 |
| ·声速测定 | 第52-53页 |
| ·声衰减特性测定 | 第53页 |
| ·信噪比测定 | 第53页 |
| ·检测准备 | 第53-57页 |
| ·超声波仪器 | 第53-54页 |
| ·超声波换能器 | 第54页 |
| ·支柱瓷绝缘子试块 | 第54-56页 |
| ·耦合剂 | 第56-57页 |
| ·检测结果及数据分析 | 第57-63页 |
| ·距离-增益对比分析 | 第57-58页 |
| ·声衰减对比分析 | 第58-61页 |
| ·入射角对测试结果影响分析 | 第61-62页 |
| ·制作方法对测试结果影响分析 | 第62-63页 |
| ·本章小结 | 第63-64页 |
| 第5章 结论与展望 | 第64-66页 |
| ·工作总结 | 第64-65页 |
| ·研究展望 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-70页 |
| 致谢 | 第70页 |
