一种功放加载老化测试系统的设计与实现
| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-14页 |
| ·引言 | 第8页 |
| ·功放老化的意义 | 第8-9页 |
| ·国内外研究现状 | 第9-10页 |
| ·本文的研究内容 | 第10-11页 |
| ·本论文的结构 | 第11-14页 |
| 第二章 电子设备老化 | 第14-20页 |
| ·产品的早期失效 | 第14-16页 |
| ·浴盆曲线 | 第14-15页 |
| ·失效的原因 | 第15页 |
| ·Weibull 分布 | 第15-16页 |
| ·电子产品高温老化原理 | 第16-17页 |
| ·老化的相关因素 | 第17-20页 |
| ·适合老化的产品 | 第17页 |
| ·老化的时间 | 第17-18页 |
| ·老化过程的加速 | 第18页 |
| ·应力加速原理 | 第18-20页 |
| 第三章 功放加载老化系统需求及设计方案 | 第20-26页 |
| ·功放老化需求 | 第20页 |
| ·老化系统功能需求 | 第20-22页 |
| ·功能要求 | 第20-21页 |
| ·性能要求 | 第21-22页 |
| ·系统架构设计方案 | 第22-23页 |
| ·老化流程设计方案 | 第23-24页 |
| ·作者完成的工作 | 第24-26页 |
| 第四章 功放加载老化系统硬件设计 | 第26-52页 |
| ·核心小系统设计及实现 | 第27-32页 |
| ·CPU | 第28-29页 |
| ·SDRAM | 第29-30页 |
| ·Flash | 第30-31页 |
| ·核心小系统电路实现 | 第31-32页 |
| ·CPLD 设计及实现 | 第32-33页 |
| ·CPLD 实现功能 | 第32页 |
| ·CPLD 器件选型 | 第32-33页 |
| ·CPLD 电路实现 | 第33页 |
| ·数据采集设计及实现 | 第33-37页 |
| ·AD 转换芯片 | 第33-34页 |
| ·电流采集设计 | 第34-36页 |
| ·功率采集设计 | 第36页 |
| ·温度采集设计 | 第36-37页 |
| ·频综设计及实现 | 第37-41页 |
| ·整体设计 | 第37-38页 |
| ·频综芯片 | 第38-40页 |
| ·数控衰减器 | 第40-41页 |
| ·频综部分电路实现 | 第41页 |
| ·风扇控制设计及实现 | 第41-42页 |
| ·通信接口设计及实现 | 第42-49页 |
| ·网络通信接口 | 第42-44页 |
| ·RS_232 串行接口 | 第44-45页 |
| ·I2C 接口 | 第45-49页 |
| ·电源设计及实现 | 第49-51页 |
| ·单板电源结构树 | 第49页 |
| ·各级电源设计及实现 | 第49-51页 |
| ·电源滤波及接地处理 | 第51页 |
| ·电源部分电路实现 | 第51页 |
| ·老化控制板整体实现 | 第51-52页 |
| 第五章 功放加载老化系统软件设计 | 第52-70页 |
| ·老化过程软件控制流程 | 第52-56页 |
| ·CPLD 逻辑设计与实现 | 第56-65页 |
| ·硬件描述语言及开发软件 Quartus II | 第56-57页 |
| ·CLPD 逻辑功能及控制流程 | 第57-59页 |
| ·CPLD 内部寄存器定义 | 第59-62页 |
| ·CPLD 逻辑部分功能模块实现及仿真结果 | 第62-65页 |
| ·BSP 软件实现 | 第65-70页 |
| ·BSP 软件功能 | 第65-66页 |
| ·BSP 软件模块 | 第66-70页 |
| 第六章 功放加载老化系统测试及效果评估 | 第70-74页 |
| ·系统测试及结果 | 第70-73页 |
| ·测试目的 | 第70页 |
| ·测试内容 | 第70页 |
| ·测试方法及结果 | 第70-73页 |
| ·系统性能评估 | 第73-74页 |
| 第七章 总结与展望 | 第74-76页 |
| ·全文工作总结 | 第74-75页 |
| ·进一步工作展望 | 第75-76页 |
| 致谢 | 第76-78页 |
| 参考文献 | 第78-80页 |
| 研究成果 | 第80-82页 |
| 附录 A | 第82-89页 |
