| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-8页 |
| 第一章 研究的理论基础 | 第8-19页 |
| 1 、飞秒激光 | 第8页 |
| 2 、光与物质相互作用的原理 | 第8-14页 |
| ·、载流子激发机理 | 第10-11页 |
| ·、相关效应和衰减 | 第11页 |
| ·、载流子散射和再分布 | 第11-12页 |
| ·、载流子—载流子散射 | 第11-12页 |
| ·、载流子—声子散射 | 第12页 |
| ·、载流子—晶格热化过程 | 第12页 |
| ·、载流子重组 | 第12-13页 |
| ·、载流子扩散 | 第13页 |
| ·、结构效应 | 第13-14页 |
| 3 、相变存储技术(PCRAM) | 第14-16页 |
| ·、相变存储器的写、擦和读操作 | 第15-16页 |
| ·、相变材料研究历史 | 第16页 |
| ·、存储性能的改善 | 第16页 |
| 4 、泵浦——探测手段 | 第16-19页 |
| 第二章 实验方法 | 第19-22页 |
| 1 、样品制备仪器 | 第19页 |
| 2 、样品的制备 | 第19-20页 |
| 3 、样品性能测试 | 第20-22页 |
| ·、XRD分析 | 第20-21页 |
| ·、Raman分析 | 第21页 |
| ·、薄膜厚度 | 第21页 |
| ·、飞秒激光泵浦-探测 | 第21-22页 |
| 第三章 实验结果及讨论 | 第22-31页 |
| 1 、飞秒激光作用下Ge_2Sb_2Te_5薄膜的相变与辐照点形貌特征 | 第22页 |
| 2 、飞秒激光多脉冲作用下非晶态Ge_2Sb_2Te_5薄膜的晶化 | 第22-23页 |
| 3 、Raman光谱分析 | 第23-25页 |
| 4、X-ray衍射分析 | 第25页 |
| 5、泵浦——探测数据分析 | 第25-28页 |
| ·飞秒激光作用下非晶态Ge_2Sb_2Te_5薄膜的瞬态反射率变化 | 第26-27页 |
| ·飞秒激光作用下晶态Ge_2Sb_2Te_5薄膜的瞬态反射率变化 | 第27-28页 |
| 6、数据分析讨论 | 第28-31页 |
| 第四章 结论及创新点 | 第31-32页 |
| 参考文献 | 第32-35页 |
| 在校期间发表的学术论文 | 第35-36页 |
| 致谢 | 第36页 |
