| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-8页 |
| 第1章 绪论 | 第8-24页 |
| ·课题背景 | 第8页 |
| ·低地球轨道环境 | 第8-13页 |
| ·地球辐射带 | 第9-11页 |
| ·高真空 | 第11-12页 |
| ·热循环效应 | 第12-13页 |
| ·BaTO_3陶瓷封装电容器及其发展 | 第13-15页 |
| ·BaTO_3陶瓷封装电容器 | 第13-14页 |
| ·陶瓷封装电容器的发展 | 第14-15页 |
| ·陶瓷电容器的主要电性能参数 | 第15-17页 |
| ·电容器常见失效模式与失效机理及分析方法 | 第17-19页 |
| ·电容器常见失效模式 | 第17页 |
| ·电容器失效机理分析 | 第17-19页 |
| ·电容器失效分析方法 | 第19页 |
| ·陶瓷封装电容器可靠性研究现状 | 第19-21页 |
| ·陶瓷电容器的低电压失效 | 第19-21页 |
| ·陶瓷封装电容器的高压加速寿命试验(HALT) | 第21页 |
| ·热循环及辐照对陶瓷封装电容器的影响 | 第21-22页 |
| ·本课题的研究目的和内容 | 第22-24页 |
| 第2章 材料及试验方法 | 第24-31页 |
| ·试验材料 | 第24-25页 |
| ·热循环试验 | 第25-28页 |
| ·热循环试验设备 | 第25-26页 |
| ·热循环试验参数 | 第26-27页 |
| ·陶瓷封装电容测量方法 | 第27-28页 |
| ·Co-60 γ辐照试验 | 第28-29页 |
| ·显微结构分析 | 第29页 |
| ·热应力有限元模拟 | 第29-31页 |
| 第3章 热循环条件对陶瓷封装电容器性能的影响 | 第31-40页 |
| ·热循环过程中温度对电容器性能影响规律 | 第31-35页 |
| ·热循环过程中温度对电容量变化率影响规律 | 第31-34页 |
| ·热循环过程中温度对电容器损耗角正切值D影响规律 | 第34-35页 |
| ·热循环次数对电容器性能的影响规律 | 第35-39页 |
| ·热循环次数对电容量变化率影响规律 | 第35-37页 |
| ·热循环次数对电容损耗角正切值D影响规律 | 第37-39页 |
| ·本章小结 | 第39-40页 |
| 第4章 热循环对陶瓷电容的结构损伤及有限元分析 | 第40-49页 |
| ·BaTO_3陶瓷电容器的失效标准 | 第40-41页 |
| ·失效的陶瓷封装电容的微观形貌 | 第41-45页 |
| ·陶瓷封装电容器热应力失效的有限元模拟 | 第45-48页 |
| ·陶瓷封装电容器的有限元模型的建立 | 第46页 |
| ·陶瓷封装电容器内部交变热应力的分布 | 第46-48页 |
| ·本章小节 | 第48-49页 |
| 第5章 辐照环境下陶瓷封装电容器性能变化 | 第49-56页 |
| ·引言 | 第49页 |
| ·辐照对陶瓷封装电容器主要电参数的影响 | 第49-55页 |
| ·钴60 源的γ射线辐照对电容量的影响 | 第50-53页 |
| ·钴60 源的γ射线辐照对电容器损耗角正切值D的影响 | 第53-55页 |
| ·本章小节 | 第55-56页 |
| 结论 | 第56-57页 |
| 参考文献 | 第57-62页 |
| 致谢 | 第62页 |