| 致谢 | 第1-6页 |
| 中文摘要 | 第6-7页 |
| ABSTRACT | 第7-10页 |
| 1 绪论 | 第10-13页 |
| ·研究背景 | 第10-11页 |
| ·研究目的与内容 | 第11页 |
| ·论文章节安排 | 第11-13页 |
| 2 相关技术综述 | 第13-27页 |
| ·编译器概述 | 第13-16页 |
| ·编译器的简介 | 第13页 |
| ·编译的过程 | 第13-16页 |
| ·编译器优化技术 | 第16页 |
| ·软件测试概述 | 第16-20页 |
| ·软件测试的概念 | 第16-17页 |
| ·软件测试方法 | 第17-19页 |
| ·软件测试级别 | 第19-20页 |
| ·软件测试活动流程 | 第20页 |
| ·编译器优化测试 | 第20-23页 |
| ·编译器优化测试 | 第20-21页 |
| ·编译器优化的测试方法 | 第21页 |
| ·编译优化测试主要内容 | 第21-23页 |
| ·编译测试的测试用例生成方法综述 | 第23-26页 |
| ·针对编译前端测试的测试用例生成方法 | 第23-25页 |
| ·针对编译优化功能测试的测试用例生成方法 | 第25-26页 |
| ·本章小结 | 第26-27页 |
| 3 基于基准划分的自动测试用例生成器的设计与实现 | 第27-49页 |
| ·基于基准划分的基本思想 | 第27-29页 |
| ·自动测试用例生成器CDB_ATG的设计 | 第29-43页 |
| ·CDB_ATG的设计思想 | 第29-31页 |
| ·基准对应规则的产生 | 第31-33页 |
| ·程序控制结构的生成 | 第33-37页 |
| ·程序数据流的生成 | 第37-41页 |
| ·测试用例输出的两遍生成过程 | 第41-43页 |
| ·位分段组合冗余检测算法(BSC) | 第43-47页 |
| ·BSC算法的基本思想 | 第43-44页 |
| ·BSC算法的描述 | 第44-47页 |
| ·BSC算法的评价 | 第47页 |
| ·本章小节 | 第47-49页 |
| 4 基于基准划分的编译器优化自动测试框架(ATF) | 第49-64页 |
| ·编译器优化自动测试框架(ATF)简介 | 第49-53页 |
| ·ATF的研发背景 | 第49页 |
| ·ATF的体系结构 | 第49-52页 |
| ·ATF的系统功能 | 第52-53页 |
| ·机器学习(Machine Learning)在ATF中的应用 | 第53-61页 |
| ·ML的简介 | 第53-55页 |
| ·ML工具Weka的简介 | 第55-57页 |
| ·Weka在ATF中的应用 | 第57-61页 |
| ·ATF的使用效果 | 第61-62页 |
| ·本章小节 | 第62-64页 |
| 5 结论 | 第64-66页 |
| ·论文的工作总结 | 第64页 |
| ·进一步的工作 | 第64-66页 |
| 参考文献 | 第66-68页 |
| 作者简历 | 第68-70页 |
| 学位论文数据集 | 第70页 |