中文摘要 | 第1-14页 |
英文摘要 | 第14-16页 |
第一章 绪论 | 第16-53页 |
§1.1 拉曼光谱简介 | 第16-21页 |
§1.1.1 表面增强拉曼光谱的发现与特点 | 第16-17页 |
§1.1.2 表面增强拉曼效应机理 | 第17-21页 |
§1.2 SERS基底的制备方法 | 第21-38页 |
§1.2.1 金属电极的电化学氧化还原法 | 第21-24页 |
§1.2.2 溶胶法 | 第24-26页 |
§1.2.3 高真空沉积法 | 第26-27页 |
§1.2.4 化学法 | 第27-28页 |
§1.2.5 以核壳结构的纳米材料做SERS基底 | 第28-29页 |
§1.2.6 机械法 | 第29-30页 |
§1.2.7 平板印刷法 | 第30-32页 |
§1.2.8 模板法 | 第32-34页 |
§1.2.9 纳米粒子的有序组装方法 | 第34-38页 |
§1.3 SPR在SERS中的应用及SPR调节的方法 | 第38-39页 |
§1.4 SERS在微量和限量检测方面的应用 | 第39-40页 |
§1.5 本论文的研究目的 | 第40-41页 |
参考文献 | 第41-53页 |
第二章 实验 | 第53-59页 |
§2.1 试剂 | 第53-54页 |
§2.1.1 试剂 | 第53页 |
§2.1.2 溶液配置 | 第53-54页 |
§2.2 仪器 | 第54-57页 |
§2.2.1 常规仪器及其处理 | 第54页 |
§2.2.2 电化学仪器装置 | 第54-55页 |
§2.2.3 紫外—可见吸收光谱仪 | 第55页 |
§2.2.4 扫描电镜 | 第55-56页 |
§2.2.5 共焦显微拉曼光谱仪 | 第56-57页 |
参考文献 | 第57-59页 |
第三章 ITO上组装不同粒径的金纳米粒子的条件探索 | 第59-75页 |
§3.1 不同粒径的金溶胶的制备和表征 | 第60-62页 |
§3.1.1 金溶胶的制备 | 第60页 |
§3.1.2 金溶胶的表征 | 第60-62页 |
§3.2 组装过程中各种影响因素的探索 | 第62-72页 |
§3.2.1 ITO的清洗 | 第62页 |
§3.2.2 ITO的活化 | 第62-65页 |
§3.2.3 在ITO上组装APTMS的几种方法 | 第65-67页 |
§3.2.4 不同粒径的纳米粒子在ITO上的组装条件的探索 | 第67-72页 |
本章小结 | 第72-73页 |
参考文献 | 第73-75页 |
第四章 第四章在组装不同粒径的金粒子的模板上电沉积制备SERS基底及其均匀性表征 | 第75-109页 |
§4.1 组装粒径约12nm的金基底的制备和表征 | 第76-87页 |
§4.1.1 12nm的金纳米粒子的组装 | 第76-83页 |
§4.1.2 组装不同密度的12nm的会粒子 | 第83-87页 |
§4.2 组装粒径约30nm的金基底的制备和表征 | 第87-93页 |
§4.2.1 30nm金纳米粒子的组装 | 第87-91页 |
§4.2.2 组装不同密度的30nm的金粒子 | 第91-93页 |
§4.3 组装粒径50nm的金基底的制备和表征 | 第93-98页 |
§4.3.1 50nm金纳米粒子的组装 | 第93-98页 |
§4.4 组装粒径70nm的金基底的制备和表征 | 第98-101页 |
§4.4.1 70nm金粒子的组装 | 第98-101页 |
§4.5 不同体系的SERS活性及均匀性的比较 | 第101-106页 |
§4.5.1 不同体系的SERS活性比较 | 第101-103页 |
§4.5.2 不同体系的均匀性比较 | 第103-106页 |
本章小结 | 第106-107页 |
参考文献 | 第107-109页 |
第五章 基底的检测灵敏度表征 | 第109-129页 |
§5.1 组装50nm的粒子的基底检测灵敏度的测定 | 第110-123页 |
§5.1.1 4,4'-联吡啶分子结构 | 第110-113页 |
§5.1.2 组装50nm的金的基底的检测灵敏度的测定 | 第113-119页 |
§5.1.3 增强因子计算 | 第119-123页 |
§5-2 组装70nm的粒子的基底的检测灵敏度测定 | 第123-125页 |
§5-3 两体系的比较 | 第125-126页 |
本章小结 | 第126-127页 |
参考文献 | 第127-129页 |
作者攻读硕士学位期间发表与交流论文 | 第129-130页 |
致谢 | 第130页 |