模拟和混合信号电路测试及故障诊断方法研究
| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-12页 |
| 第1章 绪论 | 第12-22页 |
| ·问题的提出 | 第12-14页 |
| ·模拟和混合信号电路测试研究现状 | 第14-20页 |
| ·本文主要内容及结构 | 第20-22页 |
| 第2章 集成电路测试技术概述 | 第22-34页 |
| ·集成电路的发展 | 第22-23页 |
| ·集成电路的分类与制造工艺 | 第23-24页 |
| ·集成电路设计 | 第24-25页 |
| ·集成电路的测试及分类 | 第25-26页 |
| ·集成电路的测试技术 | 第26-33页 |
| ·测试仪 | 第26-28页 |
| ·测试生成 | 第28-29页 |
| ·故障模拟 | 第29-30页 |
| ·响应分析 | 第30页 |
| ·可测试性设计 | 第30-33页 |
| ·测试面临的挑战 | 第33页 |
| ·小结 | 第33-34页 |
| 第3章 基于小波变换的混合信号电路电流测试方法 | 第34-60页 |
| ·稳态电流测试 | 第34-37页 |
| ·IDDQ 测试的原理 | 第34-35页 |
| ·IDDQ 测试的有效性 | 第35-37页 |
| ·IDDQ 测试方法 | 第37页 |
| ·瞬态电流测试 | 第37-39页 |
| ·IDDT 测试可行性和基本原理 | 第38-39页 |
| ·IDDT 测试方法 | 第39页 |
| ·混合信号电路动态电流测试 | 第39-45页 |
| ·被测电路 | 第40-41页 |
| ·电流传感器 | 第41-42页 |
| ·动态电流测试 | 第42-45页 |
| ·小波变换 | 第45-51页 |
| ·小波分析 | 第46-48页 |
| ·连续小波变换 | 第48-50页 |
| ·离散小波变换 | 第50-51页 |
| ·基于小波分析的混合信号电路故障诊断 | 第51-59页 |
| ·基本算法 | 第51-52页 |
| ·故障检测 | 第52-53页 |
| ·故障定位 | 第53-55页 |
| ·诊断实验 | 第55-59页 |
| ·小结 | 第59-60页 |
| 第4章 模数转换器静态特性参数内建自测试 | 第60-82页 |
| ·模数转换电路静态性能参数定义 | 第60-62页 |
| ·ADC 静态参数码密度直方图测试 | 第62-63页 |
| ·基于正弦波输入的码密度直方图测试 | 第63-65页 |
| ·正弦信号概率密度分析 | 第63-64页 |
| ·ADC 特性参数分析 | 第64-65页 |
| ·基于三角波输入的码密度直方图测试 | 第65-67页 |
| ·内建自测试 | 第67-73页 |
| ·BIST 技术原理 | 第67-68页 |
| ·标准LFSR | 第68-70页 |
| ·数字电路BIST 实例 | 第70-73页 |
| ·混合信号内建自测试(BIST) | 第73-78页 |
| ·基于码密度测试的ADC BIST 结构 | 第73-74页 |
| ·三角波激励信号发生器 | 第74-78页 |
| ·仿真实验 | 第78-81页 |
| ·小结 | 第81-82页 |
| 第5章 基于模糊神经网络的模拟电路故障诊断 | 第82-100页 |
| ·人工神经网络概述 | 第82-85页 |
| ·遗传算法概述 | 第85-91页 |
| ·遗传算法的工作原理 | 第85-88页 |
| ·基本遗传操作 | 第88-91页 |
| ·基于模糊神经网络的模拟电路故障诊断 | 第91-95页 |
| ·模糊神经网路模型 | 第91-93页 |
| ·训练样本预处理 | 第93-94页 |
| ·故障诊断步骤 | 第94-95页 |
| ·诊断实例 | 第95-98页 |
| ·小结 | 第98-100页 |
| 第6章 基于解析信号分析的锁相环时钟抖动测量方法 | 第100-108页 |
| ·锁相环抖动 | 第100-102页 |
| ·解析信号和希尔伯波特变换 | 第102页 |
| ·时钟抖动的测量 | 第102-104页 |
| ·实验结果 | 第104-106页 |
| ·小结 | 第106-108页 |
| 结论 | 第108-110页 |
| 参考文献 | 第110-119页 |
| 附录A 攻读学位期间所发表的学术论文目录 | 第119-120页 |
| 致谢 | 第120页 |
