| 摘要 | 第1-7页 |
| ABSTRACT | 第7-11页 |
| 目录 | 第11-12页 |
| 第一章 绪论 | 第12-21页 |
| 1 超导现象 | 第12页 |
| 2 高温超导体的发展 | 第12-14页 |
| 3 高温超导领域的困惑 | 第14-15页 |
| 4 高温超导的研究进展 | 第15-20页 |
| 5 研究任务和意义 | 第20-21页 |
| 第二章 正电子湮没技术 | 第21-33页 |
| 1 概述 | 第21页 |
| 2 空位型缺陷对正电子的捕获 | 第21-22页 |
| 3 正电子寿命谱仪 | 第22-23页 |
| 4 正电子两态捕获模型 | 第23-26页 |
| 5 正电子寿命谱分析 | 第26-27页 |
| 6 正电子湮没率与电子密度 | 第27-29页 |
| ·均匀电子气系统中的正电子湮没率 | 第27-28页 |
| ·非均匀电子系统中的正电子湮没率 | 第28-29页 |
| 7 正电子湮没辐射Doppler展宽 | 第29-33页 |
| 第三章 高温超导体的Doppler展宽实验 | 第33-42页 |
| 1 引言 | 第33-34页 |
| 2 高温超导体YBCO及BPSCCO部分掺杂的Doppler效应 | 第34-41页 |
| ·掺Zn与Ga的YBCO体系的Doppler展宽 | 第37-39页 |
| ·掺Zn与Ga的BPSCCO体系的Doppler展宽 | 第39-41页 |
| 3 小结 | 第41-42页 |
| 第四章 高温超导体的微观缺陷和电子密度随温度的变化 | 第42-53页 |
| 1 引言 | 第42页 |
| 2 Bi系高温超导体的变温过程 | 第42-51页 |
| ·未掺杂样品的变温过程 | 第43-45页 |
| ·掺Ga(x=0.3)样品的变温过程 | 第45-47页 |
| ·掺Zn(x=0.15,0.6)样品的变温过程 | 第47-51页 |
| 3 小结 | 第51-53页 |
| 参考文献 | 第53-56页 |
| 致谢 | 第56-57页 |
| 硕士期间完成论文情况 | 第57页 |
