| 中文摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-16页 |
| ·研究背景和意义 | 第8-12页 |
| ·国内外可靠性研究现状 | 第12-14页 |
| ·研究目的和论文的内容安排 | 第14-16页 |
| 第二章 国产 XBT 系统简介 | 第16-21页 |
| ·XBT 系统组成 | 第16-17页 |
| ·XBT 系统的测量原理 | 第17-18页 |
| ·XBT 系统性能参数及主要指标 | 第18-19页 |
| ·可靠性设计工作 | 第19-20页 |
| ·本章小结 | 第20-21页 |
| 第三章 可靠性研究的理论基础 | 第21-33页 |
| ·可靠性基本概念和定义 | 第21-24页 |
| ·可靠性建模理论 | 第24-26页 |
| ·可靠性预计原理 | 第26-28页 |
| ·可靠性分配原理 | 第28-32页 |
| ·可靠性研究的其他方法和技术 | 第32页 |
| ·本章小结 | 第32-33页 |
| 第四章 XBT 系统可靠性建模、预计和分配 | 第33-68页 |
| ·XBT 系统可靠性建模 | 第33-41页 |
| ·XBT 系统工作状态可靠性预计 | 第41-54页 |
| ·工作状态可靠性预计概述 | 第41页 |
| ·测量电路子系统 | 第41-51页 |
| ·传感器子系统 | 第51页 |
| ·探头结构子系统 | 第51-52页 |
| ·发射枪结构子系统 | 第52-53页 |
| ·加固机子系统 | 第53页 |
| ·工作状态可靠度 | 第53-54页 |
| ·XBT 系统非工作状态可靠性预计 | 第54-64页 |
| ·非工作状态可靠性预计概述 | 第54-55页 |
| ·测量电路子系统 | 第55-63页 |
| ·传感器子系统 | 第63-64页 |
| ·非工作状态可靠度 | 第64页 |
| ·XBT 系统可靠性综合预计 | 第64-67页 |
| ·系统可靠性综合预计 | 第64-67页 |
| ·关于可靠性综合预计的探讨 | 第67页 |
| ·本章小结 | 第67-68页 |
| 第五章 XBT 系统现场试验分析 | 第68-79页 |
| ·XBT 系统现场试验结果的统计分析 | 第68-70页 |
| ·XBT 系统现场试验结果分析 | 第70页 |
| ·过程统计控制（SPC）技术分析现场试验数据的探讨 | 第70-78页 |
| ·本章小结 | 第78-79页 |
| 第六章 XBT 系统可靠性分配 | 第79-82页 |
| ·XBT 系统投放成功率预计 | 第79页 |
| ·XBT 系统可靠性指标分配 | 第79-81页 |
| ·本章小结 | 第81-82页 |
| 第七章 XBT 系统可靠性及故障现象分析 | 第82-92页 |
| ·可靠性预计结果与海试情况的比较 | 第82-84页 |
| ·海试主要故障现象归纳 | 第84-87页 |
| ·海试主要故障现象分析 | 第87-91页 |
| ·本章小结 | 第91-92页 |
| 第八章 XBT 系统可靠性试验规划 | 第92-106页 |
| ·XBT 系统可靠性试验方案的规划及分析 | 第92-94页 |
| ·XBT 系统可靠性试验方案 | 第94-104页 |
| ·XBT 系统非工作状态下可靠性试验的探讨 | 第104页 |
| ·本章小结 | 第104-106页 |
| 第九章 总结与展望 | 第106-109页 |
| ·总结 | 第106-107页 |
| ·展望 | 第107-109页 |
| 参考文献 | 第109-112页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第112-113页 |
| 附录A XBT硬件核心电路 | 第113-114页 |
| 附录B 术语、定义和符号 | 第114-118页 |
| 附录C XBT系统环境试验方法 | 第118-127页 |
| 附录D 最佳的抽样检测方案 MATLAB 程序 | 第127-129页 |
| 致谢 | 第129页 |