海底原位X荧光探针分析的水分效应及校正技术研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 第1章 引言 | 第10-14页 |
| ·选题依据及研究意义 | 第10-11页 |
| ·国内外研究现状 | 第11-13页 |
| ·国外研究概况 | 第11-12页 |
| ·国内研究现状 | 第12-13页 |
| ·研究内容 | 第13页 |
| ·本章小结 | 第13-14页 |
| 第2章 X 射线荧光分析的理论基础 | 第14-22页 |
| ·X 射线荧光定性分析的基本原理 | 第14-16页 |
| ·X 射线荧光定量分析基本方程 | 第16-18页 |
| ·X 射线荧光计数率公式 | 第16-17页 |
| ·散射射线计数率的基本公式 | 第17-18页 |
| ·X 射线与物质的相互作用 | 第18-20页 |
| ·光电效应 | 第18-19页 |
| ·康普顿散射效应 | 第19页 |
| ·X 射线在物质中的吸收 | 第19-20页 |
| ·本章小结 | 第20-22页 |
| 第3章 水分效应的影响及对策 | 第22-33页 |
| ·样品内部水分对X 射线强度的影响及对策 | 第22-25页 |
| ·样品内部水分效应 | 第22-23页 |
| ·样品内部水分效应的对策 | 第23-25页 |
| ·样品和铍窗之间水分对X 射线强度的影响及对策 | 第25-29页 |
| ·样品外水层厚度的影响 | 第26页 |
| ·水层厚度的影响及校正 | 第26-29页 |
| ·其他干扰因素及对策 | 第29-32页 |
| ·基体效应及校正 | 第29-31页 |
| ·不平度效应及校正 | 第31-32页 |
| ·矿化不均效应 | 第32页 |
| ·本章小结 | 第32-33页 |
| 第4章 仪器设备和样品 | 第33-40页 |
| ·实验样品的制备 | 第33-34页 |
| ·颗粒度的影响及对策 | 第34-36页 |
| ·实验仪器介绍 | 第36-38页 |
| ·仪器谱漂修正 | 第38-39页 |
| ·本章小结 | 第39-40页 |
| 第5章 实验方案及结果分析 | 第40-58页 |
| ·实验准备 | 第40-43页 |
| ·样品水分饱和度的研究 | 第43-44页 |
| ·水分衰减系数的研究 | 第44-45页 |
| ·水层厚度的确定及校正方法 | 第45-54页 |
| ·实验结果的评价 | 第54-57页 |
| ·本章小结 | 第57-58页 |
| 结论 | 第58-59页 |
| 致谢 | 第59-60页 |
| 参考文献 | 第60-63页 |
| 攻读学位期间取得学术成果 | 第63页 |
