光学薄膜激光诱导损伤图像分析与参数测量方法研究
摘要: | 第1-3页 |
Abstract: | 第3-7页 |
1 前言 | 第7-10页 |
·课题背景 | 第7-8页 |
·本课题的主要工作和新意 | 第8-9页 |
·本文的组织结构 | 第9-10页 |
2 CCD光斑图像小光斑分割 | 第10-20页 |
·图像分割概况 | 第10-12页 |
·光斑的成像原理和分布特点 | 第12-13页 |
·基于局部极值确定小光斑的中心位置 | 第13-15页 |
·基于高斯引力摸型的小光斑分割 | 第15-16页 |
·实验结果 | 第16-20页 |
·图像预处理 | 第16-18页 |
·小光斑分割 | 第18-20页 |
3 CCD光电响应特性标定 | 第20-35页 |
·光学元件激光诱导损伤的基础知识 | 第20-22页 |
·基本概念 | 第20-21页 |
·激光对光学元件损伤的作用方式 | 第21-22页 |
·测量装置和测试规范 | 第22-24页 |
·CCD光电响应特性标定方法及实验结果 | 第24-34页 |
·总能量—总灰度线性标定法 | 第25-27页 |
·峰值能量—最大灰度线性标定法 | 第27-29页 |
·双线性标定法 | 第29-34页 |
·小光斑激光诱导损伤参数测量 | 第34-35页 |
4 光学薄膜激光损伤图像匹配 | 第35-46页 |
·图像匹配研究概况 | 第35-37页 |
·光学薄膜激光损伤图像匹配的特点 | 第37页 |
·基于小波变换的快速图像匹配 | 第37-39页 |
·本文的改进算法 | 第39-41页 |
·实验结果 | 第41-46页 |
5 光学薄膜激光损伤图像轮廓提取 | 第46-52页 |
·图像轮廓提取研究概况 | 第46-47页 |
·SNAKE的基本原理 | 第47-48页 |
·贪婪算法 | 第48页 |
·外部函数的改进 | 第48-49页 |
·实验结果 | 第49-52页 |
6 光学薄膜缺陷图像分割 | 第52-71页 |
·缺陷的种类、特点及成因 | 第52-53页 |
·基于遗传算法的二维最大熵分割算法 | 第53-59页 |
·遗传算法 | 第53-55页 |
·最大熵原理 | 第55-58页 |
·二维熵分割在遗传算法中的构造问题 | 第58-59页 |
·本文的改进算法 | 第59-67页 |
·实验结果 | 第67-71页 |
7 系统应用 | 第71-73页 |
8 总结与展望 | 第73-75页 |
·总结 | 第73-74页 |
·展望 | 第74-75页 |
参考文献 | 第75-79页 |
科研成果 | 第79-80页 |
声明 | 第80页 |
学位论文版权使用授权书 | 第80-81页 |
致谢 | 第81页 |